北京显芯科技有限公司陈鹏获国家专利权
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龙图腾网获悉北京显芯科技有限公司申请的专利芯片测试方法、系统和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118777831B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410795804.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试方法、系统和存储介质是由陈鹏;朴智薰;李起源;林荣镇;严丞辉设计研发完成，并于2024-06-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试方法、系统和存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种芯片测试方法、系统和存储介质，第一电子设备间歇地向第二电子设备发送第二电信号，并接收每个第二电信号对应的检测结果，第二电子设备用于每接收到第二电信号，向待测芯片发送对应的测试指令，获取待测芯片在目标测试下的目标信号，第二电子设备还用于根据每个目标信号生成对应的检测结果并发送至第一电子设备，每个检测结果用于指示待测芯片是否通过对应的目标测试。因此，第一电子设备在接收到每个第二电信号对应的检测结果后，可以根据每个第二电信号对应的检测结果判断待测芯片是否正常。且由于第二电子设备的检测频率大于第一电子设备的检测频率，则可以缩短检测周期，从而提高芯片测试过程中对芯片的覆盖率和测试精度。
本发明授权芯片测试方法、系统和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法用于第一电子设备，所述第一电子设备为自动测试设备ATE，所述方法包括：向待测芯片发送第一电信号，以使所述待测芯片处于开启状态；间歇地向第二电子设备发送第二电信号，并接收每个所述第二电信号对应的检测结果；所述第二电子设备用于每接收到第二电信号，向所述待测芯片发送对应的测试指令，并获取所述待测芯片在目标测试下的目标信号；所述第二电子设备还用于根据每个目标信号中第一电平的维持时间以及第二电平的维持时间生成对应的检测结果并发送至所述第一电子设备，每个检测结果用于指示所述待测芯片是否通过对应的目标测试，所述第一电平大于所述第二电平；根据每个所述第二电信号对应的检测结果，判断所述待测芯片是否正常；其中，所述第二电子设备的检测频率大于所述第一电子设备的检测频率。
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