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龙图腾网获悉西安理工大学申请的专利一种粗糙表面统计学与分形学统一接触模型的构建方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118094080B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410187502.3，技术领域涉及：G06F17/18；该发明授权一种粗糙表面统计学与分形学统一接触模型的构建方法是由郭云龙;原园设计研发完成，并于2024-02-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种粗糙表面统计学与分形学统一接触模型的构建方法在说明书摘要公布了：本发明涉及统计学模型技术领域，具体公开了一种粗糙表面统计学与分形学统一接触模型的构建方法，包括如下步骤：步骤1：通过获取粗糙表面统计学参数以及微凸体高度的分布，基于单个微凸体的接触力学性质，得到整个粗糙表面统计学接触模型；步骤2：通过粗糙表面接触变形中的单个微凸体的面积分布函数，建立粗糙表面真实接触面积和接触载荷与单个微凸体在变形过程中的接触面积a的分形学接触模型；步骤3：通过各阶谱矩得到粗糙表面的统计参数；步骤4：分别在曲率半径相同和累计偏差最小的情况下，建立统一接触模型。以分形学结果为基准，改进了统计学结果的不唯一性，为测量粗糙表面和获取统计学参数时采样间隔的选取提供了依据。

本发明授权一种粗糙表面统计学与分形学统一接触模型的构建方法在权利要求书中公布了：1.一种粗糙表面统计学与分形学统一接触模型的构建方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：通过获取粗糙表面统计学参数以及微凸体高度的分布，基于单个微凸体的接触力学性质，得到整个粗糙表面统计学接触模型；步骤2：通过粗糙表面接触变形中的单个微凸体的面积分布函数，建立粗糙表面真实接触面积和接触载荷与单个微凸体在变形过程中的接触面积a的分形学接触模型；步骤3：通过粗糙表面二维轮廓的功率谱密度函数，得到二维轮廓的零阶、二阶、四阶谱矩，再通过各阶谱矩来得到粗糙表面的统计参数；步骤4：分别在曲率半径相同和累计偏差最小的情况下，建立统一接触模型；所述步骤4的具体为：随着刚性平面与粗糙表面间距的不断减小，粗糙表面真实接触面积不断增大，由分形学模型和统计学模型得到的接触载荷也不断增大；分形学模型的结果具有唯一性，而统计学模型的结果在给定的取样长度下，随着采样间隔的变化而变化；通过当曲率半径相等或累计偏差最小时的采样间隔，建立两种情况下的统一接触模型。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安理工大学，其通讯地址为：710048 陕西省西安市金花南路5号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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