无锡中微亿芯有限公司惠锋获国家专利权
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龙图腾网获悉无锡中微亿芯有限公司申请的专利一种芯片的可测试设计方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN117825924B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202311869516.5,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种芯片的可测试设计方法是由惠锋;董志丹;虞健;刘双设计研发完成,并于2023-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片的可测试设计方法在说明书摘要公布了:本申请公开了一种芯片的可测试设计方法,涉及芯片领域,该可测试设计方法对芯片内部至少一个预定位置处的资源模块,以资源模块的模块基础结构为基础将所述资源模块优化设计为双模式资源模块,设计得到内部包含双模式资源模块的芯片,然后即可利用双模式资源模块在处于直通工作模式时形成的输入端至输出端的直通路径来构建测试输入输出端口与待测试资源模块之间的测试路径且不影响测试覆盖率,该可测试设计方法提升了芯片的可测试性能,保证了芯片内资源模块的测试需求,满足芯片的测试需求并提升测试效率。
本发明授权一种芯片的可测试设计方法在权利要求书中公布了:1.一种芯片的可测试设计方法,其特征在于,所述可测试设计方法包括:芯片内部包括按照预定方式排布的资源模块和连线资源,对于芯片内部至少一个预定位置处的资源模块,以所述资源模块的模块基础结构为基础将所述资源模块优化设计为双模式资源模块,设计得到内部包含双模式资源模块的芯片;任意一个双模式资源模块在处于基础工作模式时形成模块基础结构,所述双模式资源模块在处于直通工作模式时形成输入端至输出端的直通路径;当确定无法通过芯片内部的连线资源形成测试输入输出端口至待测试资源模块的测试路径时,控制芯片内部的至少一个双模式资源模块切换至直通工作模式,切换至直通工作模式的所述双模式资源模块在内部形成输入端至输出端的直通路径、并将输入端获取到的信号保持不变传输至输出端,利用芯片内部的连线资源形成测试输入输出端口经由所述至少一个双模式资源模块内部的直通路径至待测试资源模块的测试路径;在经由所述至少一个双模式资源模块内部的直通路径形成的测试路径中:测试输入端口至待测试资源模块的输入端之间的向量输入路径经过至少一个双模式资源模块内部的直通路径;和或,待测试资源模块的输出端至测试输出端口的结果输出路径经过至少一个双模式资源模块内部的直通路径。
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