上海精积微半导体技术有限公司徐健获国家专利权
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龙图腾网获悉上海精积微半导体技术有限公司申请的专利超分辨率图像的重建方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116012226B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211686036.0,技术领域涉及:G06T3/4053;该发明授权超分辨率图像的重建方法及装置是由徐健;刘耀阳设计研发完成,并于2022-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本超分辨率图像的重建方法及装置在说明书摘要公布了:本发明提供了一种超分辨率图像的重建方法及装置,所述超分辨率图像的重建方法包括:获取A张初级图像;提取A张所述初级图像中在同一相对位置处的像素点的像素,以合成D张中级图像;获取相对于目标图像的像素偏移量;根据D设置截断参数,得到第一偏移量分布矩阵;得到中级图像进行离散傅里叶变换结果;得到中级图像中每一个像素点的连续傅里叶变换的采样结果;对目标图像中的每个像素点进行划分,提取在每个像素点内的划分点的像素,以合成高级图像;获取每个像素点内关于划分点的第二偏移量分布矩阵;获取高级图像中每个划分点的离散傅里叶变换结果;合成一张超分辨率图像。本发明相比于现有技术,降低了成本和所需拍摄仪器的安装难度。
本发明授权超分辨率图像的重建方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种超分辨率图像的重建方法,其特征在于,包括:S1、获取A张目标区域的初级图像,A张所述初级图像上的相同位置的像素点的像素之间存在亚像素级的偏移量,所述A为2或3;S2、按照在A张所述初级图像的水平方向上每隔B个像素点、以及在A张所述初级图像的竖直方向上每隔C个像素点对A张所述初级图像进行划分,以得到若干子图部分,所述B和所述C均为整数,且取值范围为2~6;S3、提取A张所述初级图像中每一张所述初级图像的所述若干子图部分在同一相对位置处的像素点的像素,以合成D张中级图像,所述D等于所述A、所述B和所述C的乘积;S4、选择D张所述中级图像中的其中一张图像作为目标图像,获取所述中级图像相对于所述目标图像的在同一相对位置处的像素点的像素偏移量;S5、根据所述D设置截断参数,根据所述截断参数以及通过所述S4得到的所述中级图像相对于所述目标图像的在同一相对位置处的像素点的像素偏移量,得到所述中级图像中每一个像素点的第一偏移量分布矩阵;S6、对所述中级图像进行离散傅里叶变换,以获取所述中级图像进行离散傅里叶变换的结果;S7、根据所述截断参数、所述中级图像中每一个像素点的第一偏移量分布矩阵、所述中级图像进行离散傅里叶变换的结果,得到所述中级图像中的每一个像素点的连续傅里叶变换的采样结果;S8、在水平方向上间隔F个像素和竖直方向上间隔G个像素对所述目标图像中的每个像素点进行划分,得到所述目标图像中的所述每个像素点内的E个划分点,所述E为大于1的整数,所述F和所述G的取值为112~13中能被1整除的数,所述E、所述F和所述G的乘积等于1,所述B和所述F的乘积等于所述C和所述G的乘积,提取在所述每个像素点内同一相对位置处的所述划分点的像素,以合成E张高级图像;S9、选取所述S8中的所述每个像素点内的E个划分点中的其中一个为参考划分点,获取所述每个像素点内的全部划分点相对于所述参考划分点的偏移量;根据所述偏移量以及所述划分点,获取每个像素点内关于划分点的第二偏移量分布矩阵;S10、根据所述第二偏移量分布矩阵以及每一个像素点的连续傅里叶变换的采样结果,获取E张所述高级图像中每个所述划分点的离散傅里叶变换结果;S11、对E张所述高级图像中在同一相对位置处的划分点的所述离散傅里叶变换结果进行处理,以合成一张超分辨率图像。
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