核工业理化工程研究院刘春红获国家专利权
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龙图腾网获悉核工业理化工程研究院申请的专利高精度波长测量用干涉仪装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115808120B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211663087.1，技术领域涉及：G01B9/02015；该发明授权高精度波长测量用干涉仪装置是由刘春红;程国军;代晓珂设计研发完成，并于2022-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本高精度波长测量用干涉仪装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种高精度波长测量用干涉仪装置，包括壳体和设置于壳体内部的光学机构，所述光学机构包括左右平行设置的独立干涉仪和组合干涉仪，所述独立干涉仪包括Ⅴ号干涉仪后腔镜和以及设置于其前方的Ⅴ号干涉仪前腔镜；所述组合干涉仪包括组合后腔镜和以及设置于其前方的组合干涉仪前腔镜，组合后腔镜包括自下而上依次叠放的Ⅰ号干涉仪后腔镜、Ⅱ号干涉仪后腔镜、Ⅲ号干涉仪后腔镜和Ⅳ号干涉仪后腔镜。本发明提供了一种高精度波长测量用干涉仪装置，在一个密封腔体中集成五个费索干涉仪，简化测量光学系统，同时提出一种简洁的波长测量方法，可实现10‑7波长测量精度。
本发明授权高精度波长测量用干涉仪装置在权利要求书中公布了：1.一种高精度波长测量用干涉仪装置，其特征在于：包括壳体和设置于壳体内部的光学机构，所述光学机构包括左右平行设置的独立干涉仪和组合干涉仪，所述独立干涉仪包括Ⅴ号干涉仪后腔镜16和以及设置于其前方的Ⅴ号干涉仪前腔镜17；所述组合干涉仪包括组合后腔镜和以及设置于其前方的组合干涉仪前腔镜15，组合后腔镜包括自下而上依次叠放的Ⅰ号干涉仪后腔镜11、Ⅱ号干涉仪后腔镜12、Ⅲ号干涉仪后腔镜13和Ⅳ号干涉仪后腔镜14。
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