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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第五十八研究所申请的专利一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115033435B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210646507.9，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法是由葛云侠;陈龙;赵益波;张凯虹;解维坤;武乾文;康培培设计研发完成，并于2022-06-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法，所述方法通过三个计数器驱动的可编程Mbist控制模块、算法模块、比较分析模块和待测BRAM实现。本发明中算法模块集成了8种测试算法并根据每个测试算法的特点生成特征信号，从而提高对故障的覆盖率。二是可编程Mbist控制模块接收到算法模块生成的测试算法的特征信号，在三个计数器的控制下生成测试向量、地址和控制信号对BRAM进行测试，进而提高测试的灵活性。本发明提供了一种新的基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法，用此方法代替常规的测试方法，可在需要更换测试算法时，所提出的测试方法不需重新设置Mbist电路，有效地减少了人力和配置时间从而降低测试成本。

本发明授权一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法在权利要求书中公布了：1.一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法，所述方法通过三个计数器驱动的可编程Mbist控制模块、算法模块、比较分析模块和待测BRAM实现，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：待测BRAM模块设定BRAM的工作状态，算法模块根据测试算法的顺序选择第一个测试算法并产生测试算法的特征信号；步骤S2：可编程Mbist控制模块接收到算法模块生成的测试算法的特征信号，并在三个计数器的控制下生成测试向量、地址和控制信号对BRAM进行测试；步骤S3：第一个算法执行完毕之后，测试算法模块产生第二个测试算法的特征信号，开始第二个测试算法的测试，以此类推；所述的算法模块集成多种测试算法，根据所选择的测试算法生成测试算法的特征信号；可编程Mbist控制模块被三个计数器驱动并采用FSM实现产生测试向量，地址以及各控制信号；比较分析模块比较存储器的输出向量和可编程Mbist控制模块产生的参考向量是否一致；待测BRAM模块能被设置成不同的工作状态。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子科技集团公司第五十八研究所，其通讯地址为：214000 江苏省无锡市滨湖区惠河路5号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。