中国电子科技集团公司第十三研究所刘岩获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第十三研究所申请的专利瞬态热反射测试方法、系统、装置及终端设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115219040B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210634977.3，技术领域涉及：G01J5/48；该发明授权瞬态热反射测试方法、系统、装置及终端设备是由刘岩;翟玉卫;乔玉娥;丁晨;徐森锋;任宇龙;李茹设计研发完成，并于2022-06-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本瞬态热反射测试方法、系统、装置及终端设备在说明书摘要公布了：本申请适用于显微热成像技术领域，提供了瞬态热反射测试方法、系统、装置及终端设备，该瞬态热反射测试方法包括：获取被测器件的热反射系数和被测器件在周期激励条件下热平衡后的平均温度；在周期激励条件不变的情况下，选定测量时延和参考时延，基于测量时延和参考时延，得到相机测量灰度值和相机参考灰度值；基于相机测量灰度值、相机参考灰度值、热反射系数和平均温度，得到测量时刻被测器件的温度；将被测器件的温度按照测量时延从小到大的顺序排序，得到被测温度随时间的变化情况。本申请瞬态热反射测试结果受强度漂移的影响较小，提高了测试结果的准确度。
本发明授权瞬态热反射测试方法、系统、装置及终端设备在权利要求书中公布了：1.一种瞬态热反射测试方法，其特征在于，包括：获取被测器件的热反射系数和所述被测器件在周期激励条件下热平衡后的平均温度；在所述周期激励条件不变的情况下，选定测量时延和参考时延，基于所述测量时延和所述参考时延，得到相机测量灰度值和相机参考灰度值；基于所述相机测量灰度值、所述相机参考灰度值、所述热反射系数和所述平均温度，得到测量时刻被测器件的温度；将被测器件的温度按照测量时延从小到大的顺序排序，得到被测温度随时间的变化情况；所述测量时刻被测器件的温度为：Ti＝si+Ta+e，其中，ci为所述相机测量灰度值，c0为所述相机参考灰度值，e为参考延时对应的参考温度与平均温度的温差，Ta为所述被测器件在周期激励条件下热平衡后的平均温度，CTR为热反射系数。
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