中国科学技术大学;合肥国家实验室王睿获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学技术大学;合肥国家实验室申请的专利一种基于频率可调量子比特的读取过程状态泄露标定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119670910B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510162343.6，技术领域涉及：G06N10/70；该发明授权一种基于频率可调量子比特的读取过程状态泄露标定方法是由王睿;陈福升;朱庆玲;朱晓波;彭承志;潘建伟设计研发完成，并于2025-02-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于频率可调量子比特的读取过程状态泄露标定方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于频率可调量子比特的读取过程状态泄露标定方法，涉及量子计算机技术领域，将量子比特分别制备到不同能级状态并进行连续读取，每次读取均获得经典交流信号在IQ平面上的分布，根据所述分布获得每次读取得到量子比特各状态的概率表；定义读取张量，并使用递推的方法列出所述张量和实验值之间的关系方程；将量子比特各状态的概率表代入定义的误差函数中，基于经典优化方法找出误差函数的极小值点，并返回读取张量；根据所返回的读取张量计算读取导致的状态泄露率；该读取过程状态泄露标定方法，能够连续测量状态泄露且精度高，抵抗分离错误。
本发明授权一种基于频率可调量子比特的读取过程状态泄露标定方法在权利要求书中公布了：1.一种基于频率可调量子比特的读取过程状态泄露标定方法，其特征在于，包括：将量子比特分别制备到不同能级状态并进行连续读取，每次读取均获得经典交流信号在IQ平面上的分布，根据所述分布获得每次读取得到量子比特各状态的概率表；定义读取张量，并使用递推的方法列出读取张量和实验值之间的关系方程；基于读取张量和实验值之间的关系方程定义误差函数，将量子比特各状态的概率表代入误差函数中，并返回读取张量；根据所返回的读取张量计算读取导致的状态泄露率；所述读取张量和实验值之间的关系方程如下： ；其中，实验得到的概率指标表示初始制备量子比特的状态为时，第次读取读到的量子比特状态的概率，读取张量表示量子比特在一轮读取前状态为时，读取到的状态为，读取后量子比特的状态为的概率，为初始制备量子比特的状态为时，第次读取读到的量子比特状态的概率。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学技术大学;合肥国家实验室，其通讯地址为：230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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