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龙图腾网获悉深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利基于供电切换的芯片批量测试方法及其系统、设备、介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119575149B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510139269.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于供电切换的芯片批量测试方法及其系统、设备、介质是由颜红华设计研发完成，并于2025-02-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于供电切换的芯片批量测试方法及其系统、设备、介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于供电切换的芯片批量测试方法及其系统、设备、介质，涉及芯片测试领域。方法包括：根据获取的电源控制指令控制所有电源开关闭合，控制供电模块输出第一电源电压至待测芯片；根据第一测试列表对应的第一测试供电信号，控制所有测试开关闭合、控制供电模块输出第一测试电压至待测芯片，对批量的待测芯片进行基于第一测试任务的第一并行测试，得到第一测试结果编码后，生成第一选通信号确定第二测试任务的测试对象；继续同时对测试对象进行基于第二测试任务的第二并行测试，当完成第一测试列表中的所有测试任务，控制供电模块切换输出第二测试电压继续测试第二测试列表。能自动地进行供电切换，提高批量待测芯片的测试效率。

本发明授权基于供电切换的芯片批量测试方法及其系统、设备、介质在权利要求书中公布了：1.一种基于供电切换的芯片批量测试方法，其特征在于，应用于测试系统的上位机，所述系统还包括：测试板、供电模块；测试板包括：多个待测芯片、对应于每个待测芯片设置的一组电源开关和测试开关；所述供电模块的两个输出端分别通过所述电源开关和所述测试开关与所述待测芯片电连接；所述方法包括：从第一测试配置文件中获取电源控制指令、至少一个测试列表；同一个测试列表下的测试任务所需的测试电压相同；不同测试列表下的测试任务所需的测试电压不同；根据所述电源控制指令控制所有所述电源开关闭合，并控制所述供电模块输出第一电源电压至所述待测芯片；根据第一测试列表对应的第一测试供电信号，控制所有所述测试开关闭合、控制所述供电模块输出第一测试电压至所述待测芯片；同时对批量的所述待测芯片进行基于第一测试任务的第一并行测试处理，得到第一测试结果编码；根据基于所述第一测试结果编码生成的第一选通信号，将通过所述第一测试任务的所述待测芯片确定为第二测试任务的测试对象；继续同时对所述测试对象进行基于所述第二测试任务的第二并行测试处理，当完成所述第一测试列表中的所有测试任务，控制供电模块切换输出第二测试电压继续测试第二测试列表；所述同时对批量的所述待测芯片进行基于第一测试任务的第一并行测试处理，得到第一测试结果编码，包括：同时控制批量的所述待测芯片执行所述第一测试列表中的第一测试任务，根据预设的第一编码规则、各个所述待测芯片的初始测试结果生成初始编码；当所述初始编码中包括码值2，将所述初始编码中的所有不为0的码值减1得到重测控制信号；其中，所述重测控制信号包括：高电平信号和低电平信号；响应于所述重测控制信号的高电平信号将对应的所述测试开关闭合，响应于所述重测控制信号的低电平信号将对应的所述测试开关断开，确定重测对象；对所述重测对象进行基于所述第一测试任务的并行重测处理，得到各个所述重测对象的最终重测结果；根据预设的第二编码规则、各个所述重测对象的最终重测结果、所述初始编码生成第一测试结果编码，结束所述第一并行测试处理。

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