江西兆驰半导体有限公司胡加辉获国家专利权
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龙图腾网获悉江西兆驰半导体有限公司申请的专利Micro-LED外延片及其制备方法、Micro-LED获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119364943B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411943830.8,技术领域涉及:H10H20/815;该发明授权Micro-LED外延片及其制备方法、Micro-LED是由胡加辉;郑文杰;高虹;刘春杨;金从龙设计研发完成,并于2024-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本Micro-LED外延片及其制备方法、Micro-LED在说明书摘要公布了:本发明公开了一种Micro‑LED外延片及其制备方法、Micro‑LED,涉及半导体光电器件领域。其中,Micro‑LED外延片依次包括衬底、缓冲层、第一翘曲调控层、非掺杂GaN层、第二翘曲调控层、N型GaN层、第三翘曲调控层、多量子阱层和P型GaN层;所述第一翘曲调控层为三维GaN层,所述第二翘曲调控层包括交替层叠的第一Si掺GaN层和Si掺AlGaN层,所述第三翘曲调控层包括依次层叠于所述N型GaN层上的Si掺AlInGaN层和超晶格层,所述超晶格层包括交替层叠的第二Si掺GaN层和InGaN层。实施本发明,可提升Micro‑LED的发光效率和波长均匀性。
本发明授权Micro-LED外延片及其制备方法、Micro-LED在权利要求书中公布了:1.一种Micro-LED外延片,其特征在于,包括衬底,依次层叠于所述衬底上的缓冲层、第一翘曲调控层、非掺杂GaN层、第二翘曲调控层、N型GaN层、第三翘曲调控层、多量子阱层和P型GaN层;所述第一翘曲调控层为三维GaN层,所述第二翘曲调控层包括交替层叠的第一Si掺GaN层和Si掺AlGaN层,所述第三翘曲调控层包括依次层叠于所述N型GaN层上的Si掺AlInGaN层和超晶格层,所述超晶格层包括交替层叠的第二Si掺GaN层和InGaN层;所述Si掺AlGaN层中Al组分占比为0.1~0.15,所述第一Si掺GaN层的厚度与所述Si掺AlGaN层的厚度之比4:1~10:1;所述Si掺AlInGaN层中Al组分占比≤0.2,In组分占比≤0.1;所述InGaN层中In组分占比≤0.15;所述Si掺AlInGaN层的晶格常数大于所述N型GaN层的晶格常数,所述Si掺AlInGaN层的晶格常数小于所述InGaN层的晶格常数。
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