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龙图腾网获悉同济大学申请的专利一种逐次逼近型ADC电容失配校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119382702B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411362375.2，技术领域涉及：H03M1/10；该发明授权一种逐次逼近型ADC电容失配校准方法是由胡辉;邱雷设计研发完成，并于2024-09-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种逐次逼近型ADC电容失配校准方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种逐次逼近型ADC电容失配校准方法，属于集成电路技术领域，该方法包括：设定待校准ADC中各电容权重的初始值，向其输入预设类型的输入信号，采集其输出码字，绘制输出码字的实际曲线；根据输入信号的类型，选取对应的概率密度函数，并绘制出其函数曲线，作为输出码字的理想曲线；迭代更新各电容权重，找到使得实际曲线与理想曲线最接近的电容权重，作为最优电容权重，完成电容失配校准。本发明不需要引入额外的模数转换器，也不需要加入扰动信号，更不需要模拟电路的配合，就能够实现全部电容权重的校准。

本发明授权一种逐次逼近型ADC电容失配校准方法在权利要求书中公布了：1.一种逐次逼近型ADC电容失配校准方法，其特征在于，包括：设定待校准模数转换器ADC中各电容权重的初始值，向待校准ADC输入预设类型的输入信号，采集待校准ADC的输出码字，绘制输出码字的实际曲线，包括：将各输出码字与对应的电容权重相乘，并计算加权和Dout，公式表示为：其中，di表示第i位输出码字；Wi表示di对应的电容权重；n表示电容的位数；对Dout进行直方图统计，得到表示Dout分布特征的直方图；得到所述直方图中每个bin的高度，以所述直方图中各个bin的高度对应的数据点作为离散点进行曲线拟合，将拟合出的曲线作为所述输出码字的实际曲线；其中，在对Dout进行直方图统计时，首先需要根据ADC的有效位数确定Dout的取值范围，然后将此取值范围等间隔划分为多个区间，然后统计落入每一区间内的Dout的样本数，也即在统计所得的直方图中每个bin对应的分别是处于某一区间的Dout样本数，区间大小则基于ADC的有效位数，根据经验设定；在得到相应直方图后，对于图中的每一bin，代表其高度的离散点即为以该bin所对应的区间的中间值为横坐标，以该bin所对应的样本数为纵坐标的点；根据输入信号的类型，选取对应的概率密度函数，并绘制出所述概率密度函数对应的曲线，作为待校准ADC的输出码字的理想曲线；在各电容权重的初始值基础上，以预设的权重变化步长，迭代更新各电容权重，并在每次迭代更新各电容权重后重新绘制所述实际曲线，找到使得所述实际曲线与所述理想曲线最接近的电容权重，作为最优电容权重，完成电容失配校准。

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