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龙图腾网获悉南通策林科技有限公司申请的专利一种芯片高温测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN222965358U 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421523637.4，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种芯片高温测试设备是由赵东林设计研发完成，并于2024-07-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片高温测试设备在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种芯片高温测试设备，包括测试设备主体、安装在所述测试设备主体下端的移动轮和设置在所述测试设备主体左前方的显示与控制面板，高温环形输送组件，所述高温环形输送组件设置在测试设备主体的中部，检测组件，所述检测组件包括固定安装在测试设备主体中部后端的检测支撑架、安装在所述检测支撑架顶端的探针板、设置在检测支撑架下端的顶升气缸和设置在顶升气缸输出端的测试座，龙门搬运机构，所述龙门搬运机构安装在测试设备主体中部的右端，且龙门搬运机构用于对芯片进行取放。该芯片高温测试设备，便于对载有芯片的华夫盒进行上料和搬运，通过检测组件的设置，能够对加热后的芯片进行自动检测。

本实用新型一种芯片高温测试设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片高温测试设备，包括测试设备主体（1）、安装在所述测试设备主体（1）下端的移动轮（2）和设置在所述测试设备主体（1）左前方的显示与控制面板（3）；其特征在于，还包括：高温环形输送组件（6），所述高温环形输送组件（6）设置在测试设备主体（1）的中部，且高温环形输送组件（6）用于对被检测的载有芯片的华夫盒进行输送，所述测试设备主体（1）中部的左端设置有芯片预热平台，所述测试设备主体（1）中部的右端设置有降温平台；检测组件（7），所述检测组件（7）包括固定安装在测试设备主体（1）中部后端的检测支撑架（8）、安装在所述检测支撑架（8）顶端的探针板（9）、设置在检测支撑架（8）下端的顶升气缸（10）和设置在顶升气缸（10）输出端的测试座（11）；其中，所述检测支撑架（8）、探针板（9）和顶升气缸（10）分别在检测组件（7）的下端设置有多组；龙门搬运机构（13），所述龙门搬运机构（13）安装在测试设备主体（1）中部的右端，且龙门搬运机构（13）用于对芯片进行取放。

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