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龙图腾网恭喜电子科技大学申请的专利一种针对过套管密度测量的纵向分辨率精度提高方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117536605B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311497279.4，技术领域涉及：E21B47/00；该发明授权一种针对过套管密度测量的纵向分辨率精度提高方法是由张琼;陈定坤;谢昱北设计研发完成，并于2023-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种针对过套管密度测量的纵向分辨率精度提高方法在说明书摘要公布了：本发明属于测井技术领域，具体涉及一种针对过套管密度测量的纵向分辨率精度提高方法。该方法从核测井物理原理出发，分析并推导出核测井测量曲线与真实地层物理参数的函数关系式，并基于该关系式提出了一种基于核物理原理的针对过套管测井的非仪器改进、非重复性测量的密度和中子孔隙度测井数据的分辨率提高方法。通过滑动窗方法建立相应的最优化问题，并引入中子、密度交叉约束以减小提高分辨率后，测井数据的不确定性。有效提升了密度和中子孔隙度测井数据的分辨率，为实际薄层油藏勘探提供了指导。

本发明授权一种针对过套管密度测量的纵向分辨率精度提高方法在权利要求书中公布了：1.一种针对过套管密度测量的纵向分辨率精度提高方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、根据核测井原理，推导出反应真实地层物理参数与套管环境下仪器测量值的函数关系，真实地层物理参数包括密度和孔隙度；设探测器探测到的多重散射伽马射线为虚拟源贡献，则套管均匀地质层贡献给探测器的伽马射线强度Ss为：Ss＝IvdTGd，r0，μ0，μ式中，Ss为t套管和均匀地质层贡献给探测器的伽马射线强度；Iv为虚拟源的源强，虚拟源由一个具有源能量且无散射的伽马射线组成；dT为体积元的厚度；Gd，r0，μ0，μ表示一个积分项，即套管厚度、几何位置和套管、介质的物理参数，其中r0表示井壁的位置，μ为质量衰减系数；当Gd，r0，μ0，μ不变时，Ss的大小与体积和通过套管后距离源r处未散射的源强Iv成正比，因此，在多地层中根据射线强度，采用反演算法即可计算得到地层总密度ρs；ρs＝ρ1dT1Gd，r0，μ0，μ+ρ2dT2Gd，r0，μ0，μ+ρ3dT3Gd，r0，μ0，μ式中，ρ1、ρ2、ρ3为不同地层的密度值；则在m深度点上的密度可以表示为： 式中，ρm为测井曲线测量值；wi为每个地质层的权重系数；ρi为套管及每个地层的物理参数；ρm随着深度点变化而变化；设探测仪器的垂直探测范围为VR，则反应套管、真实地层密度、孔隙度与仪器测定值的函数关系表示为： 式中，mi为在第i个测量点的测井值，ρz代表一个探测范围内套管和各个地层的真实物理参数；步骤2、以步骤1得到的函数关系为依据，构造基于深度信息的滑动窗矩阵方程组；步骤3、求解滑动窗矩阵方程组，并引入套后测量下中子、密度交叉约束法对求解得到的测井曲线动态范围进行限制，从而得到带有约束的测井曲线，以作为最终的测井数据，其过程包括：3.1、根据平衡原理，建立地层中的体积模型：Vma+Vsh+Voil+Vgas+Vwater＝1式中，Vma是岩石骨架的相对体积；Vsh是泥岩的相对体积；Voil、Vgas、Vwater分别代表岩石孔隙中的油、气、水的相对体积，它们的相对体积之和等于孔隙度φ；3.2、根据测井解释中密度与孔隙度的反比关系、以及2.1建立的体积模型，分别计算地层密度的下限ρlb和地层密度上限ρub、孔隙度的下限φlb和上限φub；3.3、以步骤1得到的函数关系为依据，引入2.2得到的地层密度的下限ρlb和地层密度上限ρub、孔隙度的下限φlb和上限φub，确定测井曲线的动态约束范围。

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