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龙图腾网获悉南京汇君半导体科技有限公司申请的专利一种本振泄露和I/Q不平衡的片上自动校准系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119210614B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411310532.5，技术领域涉及：H04B17/11；该发明授权一种本振泄露和I/Q不平衡的片上自动校准系统是由柴远;万恒至设计研发完成，并于2024-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种本振泄露和I/Q不平衡的片上自动校准系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种本振泄露和IQ不平衡的片上自动校准系统，包括用作混频器的第一部分电路、用作本振泄露与镜频检测电路的第二部分电路和用作数字控制电路的第三部分电路；本发明通过自混频的方法检测发射机输出端口的本振泄露与镜频信号，实现了本振泄露与IQ不平衡性检测，并使用片上数字电路根据检测的结果自动调节混频器跨导级中电流型DAC的输出电流，实现了片上集成的本振泄露与IQ不平衡性的自动校准。

本发明授权一种本振泄露和I/Q不平衡的片上自动校准系统在权利要求书中公布了：1.一种本振泄露和IQ不平衡的片上自动校准系统，其特征在于，包括用作混频器的第一部分电路1000、用作本振泄露与镜频检测电路的第二部分电路2000和用作数字控制电路的第三部分电路3000； 所述第一部分电路1000包括两个吉尔伯特单元构成的I、Q混频器，输入为外部提供的正交中频信号，包括IF_I+、IF_I-、IF_Q+、IF_Q-，以及正交本振信号，包括LO_I+、LO_I-、LO_Q+、LO_Q-；输出为射频差分信号，包括RF+与RF-；射频差分信号经过功率放大器放大后，在发射机的射频输出端处耦合为单端射频信号RF；I、Q混频器的正负总共四路跨导级分别由电流型DAC控制，从而实现本振泄露与IQ不平衡可校准； 所述第二部分电路2000用于对单端射频信号RF进行本振泄露与镜频检测，最终将本振泄露与镜频信号转换为与其功率成正比的数字信号；所述数字信号输入至第三部分电路3000； 所述第三部分电路3000输出端与第一部分电路1000中的电流型DAC相连，用于通过读取第二部分电路2000所产生的数字信号来获取当前本振泄露与镜频的大小，从而利用遍历的方法寻找到使本振泄露与镜频最少的IDAC输出；所述第三部分电路3000为数字控制电路，包含一个数字总线输入端口、一个校准信号输入端口、一个校准结束信号输出端口、四个数字总线输出端口，数字总线输出端口分别与第一部分电路1000中的电流型DAC，即第一IDAC1001、第二IDAC1008、第三IDAC1009、第四IDAC1016连接，用于控制DAC输出的电流大小； 第三部分电路3000的控制逻辑包括一个主流程和三个子流程，即子流程3100a、子流程3100b、子流程3100c；主流程为：开始自动校准时，系统首先执行步骤3001，从校准信号输入端口接收到校准信号，并进入子流程3100a；在子流程3100a中，电路对第一IDAC1001进行校准，修改的IDAC寄存器为第一IDAC1001对应的控制寄存器，结束后进入子流程3100b；在子流程3100b中，电路对第四IDAC1016进行校准，修改的IDAC寄存器为第四IDAC1016对应的控制寄存器，结束后进入子流程3100c；在子流程3100c中，电路对第一IDAC1001和第二IDAC1008同时进行校准，此时子流程中的步骤3102变为将控制第一IDAC1001和第二IDAC1008的寄存器数值同时加1，即保持两者寄存器的差值恒定，子流程中的步骤3106变为判断第一IDAC1001或第二IDAC1008寄存器的数值是否达到上限，如有一方达到即进入步骤3107，其余步骤一致，结束后进入步骤3002；在步骤3002中，判断当前寄存器的数值是否与上一轮寄存器的数值相同，如果不相同，则进入步骤3003，如果相同，则进入步骤3004；在步骤3003中，判断是否达到迭代次数上限，如果没有达到迭代次数上限，则返回子流程3100a，如果已经达到迭代次数上限，则进入步骤3004；在步骤3004中，电路通过校准信号输入端口发送校准结束信号，完成自动校准。

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