中国空间技术研究院;航天恒星科技有限公司贺玮获国家专利权
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龙图腾网获悉中国空间技术研究院;航天恒星科技有限公司申请的专利基于星地有源测量和SAR图像联合反演的电离层TEC确定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119414414B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411229708.4，技术领域涉及：G01S19/07；该发明授权基于星地有源测量和SAR图像联合反演的电离层TEC确定方法是由贺玮;张庆君;岳富占;张莹;夏正欢;赵志龙设计研发完成，并于2024-09-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于星地有源测量和SAR图像联合反演的电离层TEC确定方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于星地有源测量和SAR图像联合反演的电离层TEC确定方法及系统，方法包括：步骤S1、建立双频SAR卫星测量的电离层散射特性、星地有源测量的电离层穿透特性、GPS接收站测量的电离层TEC的映射关系数据库；步骤S2、根据所述映射关系数据库，利用多源幅相参数神经网络，建立并训练TEC反演深度学习模型，所述TEC反演深度学习模型以电离层幅相参数为输入，输出对应的TEC值；所述电离层幅相参数为电离层散射信号幅相参数和或电离层透射信号幅相参数；步骤S3、根据所述TEC反演深度学习模型对全球上空的电离层TEC进行在轨智能快速反演。本发明建立了基于SAR卫星测量数据的TEC反演模型，具有精度高、时效性高的优势，可实现对任意时空TEC的高精度反演。
本发明授权基于星地有源测量和SAR图像联合反演的电离层TEC确定方法在权利要求书中公布了：1.一种基于星地有源测量和SAR图像联合反演的电离层TEC确定方法，其特征在于，包括： 步骤S1、建立双频SAR卫星测量的电离层散射特性、星地有源测量的电离层穿透特性、GPS接收站测量的电离层TEC的映射关系数据库； 步骤S2、根据所述映射关系数据库，利用多源幅相参数神经网络，建立并训练TEC反演深度学习模型，所述TEC反演深度学习模型以电离层幅相参数为输入，输出对应的TEC值；所述电离层幅相参数为电离层散射信号幅相参数和或电离层透射信号幅相参数； 步骤S3、根据所述TEC反演深度学习模型对全球上空的电离层TEC进行在轨智能快速反演。
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