苏州上器试验设备有限公司张海涛获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州上器试验设备有限公司申请的专利一种测量位置可调的多通道薄膜厚度测量仪获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN222978801U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421942155.2，技术领域涉及：G01B11/06；该实用新型一种测量位置可调的多通道薄膜厚度测量仪是由张海涛;杨丽雯;杨畅;薛军扬设计研发完成，并于2024-08-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测量位置可调的多通道薄膜厚度测量仪在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种测量位置可调的多通道薄膜厚度测量仪，包括主壳体；主壳体内安装有稳压电源、光源、传输光纤、光谱仪和测量位置调整模块；光源与传输光纤连接；传输光纤包括主光纤和多根副光纤；主光纤一端与光源连接，另一端连接副光纤，每根副光纤的尾端分别连接有一光纤探头，测量位置调整模块包括调整盘、调整盘驱动机构和多个用于固定光纤探头的探头固定件，探头固定件通过连杆与调整盘活动连接，调整盘驱动机构驱动调整盘转动，调整盘通过连杆带动探头固定件进行运动，以对测量位置进行调整。本实用新型的测量仪可适用于多种尺寸不同规格的薄膜材料，使测量过程更加准确、灵活。
本实用新型一种测量位置可调的多通道薄膜厚度测量仪在权利要求书中公布了：1.一种测量位置可调的多通道薄膜厚度测量仪，其特征在于，包括主壳体；所述主壳体内安装有稳压电源、光源、传输光纤、光谱仪和测量位置调整模块； 所述光源与所述传输光纤连接；所述传输光纤包括主光纤和多根副光纤，主光纤的一端与光源连接，另一端连接副光纤，每根副光纤包括入射光芯和反射光芯，所述入射光芯将光信号传输至被测样品表面，被测样品反射的光信号由所述反射光芯收集后传输至所述光谱仪； 每根副光纤的尾端分别连接有一光纤探头，所述测量位置调整模块包括调整盘、调整盘驱动机构和多个用于固定所述光纤探头的探头固定件，每个探头固定件分别通过连杆与所述调整盘活动连接，所述调整盘驱动机构驱动所述调整盘转动，所述调整盘通过连杆带动所述探头固定件进行运动，以对测量位置进行调整。
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