零壹半导体技术(常州)有限公司张卓获国家专利权
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龙图腾网获悉零壹半导体技术(常州)有限公司申请的专利一种可供多芯片同测的载板获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN222979655U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-13发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202421830909.5,技术领域涉及:G01R1/04;该实用新型一种可供多芯片同测的载板是由张卓;杨阳;周刚;王凌惠设计研发完成,并于2024-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种可供多芯片同测的载板在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种可供多芯片同测的载板,涉及芯片测试技术领域,所述载板上具有多条相互独立且用于导电的导电平面,所述导电平面的一端设有用于与电源连接的载板供电端,所述导电平面的另一端设有用于安装待测芯片的芯片安装端,所述导电平面至少包括第一导电平面和第二导电平面,所述第一导电平面的供电路径长度小于第二导电平面,所述第一导电平面的宽度大于第二导电平面,所述第一导电平面的边缘开设有槽口,降低了载板对多芯片检测的设计成本,提高了对多芯片的检测质量。
本实用新型一种可供多芯片同测的载板在权利要求书中公布了:1.一种可供多芯片同测的载板,其特征在于:所述载板(1)上具有多条相互独立且用于导电的导电平面(4),所述导电平面(4)的一端设有用于与电源连接的载板供电端(3),所述导电平面(4)的另一端设有用于安装待测芯片的芯片安装端(2),所述导电平面(4)至少包括第一导电平面(41)和第二导电平面(42),所述第一导电平面(41)的供电路径长度小于第二导电平面(42),所述第一导电平面(41)的宽度大于第二导电平面(42),所述第一导电平面(41)的边缘开设有槽口(5)。
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