高通股份有限公司D·K·阿贾瓦尔获国家专利权
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龙图腾网获悉高通股份有限公司申请的专利自适应存储器错误检测和校正的方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118984989B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202380031768.2，技术领域涉及：G06F11/10；该发明授权自适应存储器错误检测和校正的方法和系统是由D·K·阿贾瓦尔;K·德塞;J·沙赫;R·格哈罗特设计研发完成，并于2023-03-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本自适应存储器错误检测和校正的方法和系统在说明书摘要公布了：能够监测存储器子系统的错误检测和校正EDAC逻辑以进行错误校正，其中该EDAC逻辑被配置为使用第一EDAC级别。能够确定在时间间隔期间当使用该第一EDAC级别时由该EDAC逻辑进行的错误校正的数量。当在该时间间隔期间使用该第一EDAC级别的该错误校正的数量超过阈值时，该EDAC逻辑能够从使用该第一EDAC级别切换到使用第二EDAC级别。
本发明授权自适应存储器错误检测和校正的方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种用于自适应存储器错误检测和校正EDAC的方法，包括： 监测存储器子系统的EDAC逻辑以进行错误校正，其中所述EDAC逻辑被配置为使用第一EDAC级别； 确定在第一时间间隔期间使用所述第一EDAC级别的错误校正的数量； 确定在所述第一时间间隔期间使用所述第一EDAC级别的所述错误校正的数量是否超过第一阈值； 当在所述第一时间间隔期间使用所述第一EDAC级别的所述错误校正的数量超过所述第一阈值时，将所述EDAC逻辑从使用所述第一EDAC级别切换到使用第二EDAC级别；以及 基于附加条件来将所述EDAC逻辑从所述第二EDAC级别切换回所述第一EDAC级别。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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