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龙图腾网恭喜中国工程物理研究院激光聚变研究中心申请的专利短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116295843B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211618397.1，技术领域涉及：G01J4/00；该发明授权短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法是由温家星;张博;于明海;贺书凯;齐伟;张智猛;崔波设计研发完成，并于2022-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及等离子物理核探测技术领域，尤其是提供一种短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法，其中测量方法包括：入射的X射线通过准直组件落入散射体上以产生散射光子，并通过半导体像素探测器探测出散射光子信号；利用半导体像素探测器获取散射光子能量的测量值E1，基于测量值E1计算出X射线光子的能量E0；利用半导体像素探测器获取散射光子像素位置；基于散射光子像素位置，然后通过数据拟合获取X射线的偏振方向和偏振度。其目的在于，用以解决现有偏振测量仪无法在未知X射线偏振方向的情况下，快速测量偏振度并实现对入射X射线能量测量的问题，实现对短脉冲X射线源偏振度和能谱的单发测量功能。

本发明授权短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法在权利要求书中公布了：1.短脉冲X射线源偏振测量仪，其特征在于，包括第一屏蔽盒，第一屏蔽盒的一侧设有与第一屏蔽盒连通的第二屏蔽盒，该偏振测量仪还包括： 准直组件，包括安装在第一屏蔽盒两侧的第一准直件和第二准直件，所述第一准直件和第二准直件的中心均设有准直孔，准直孔用于限制X射线进入的位置、横向宽度以及传播方向； 筒状二极磁铁，设在第一屏蔽盒内，筒状二极磁铁的两端分别与第一准直件和第二准直件贴合，筒状二极磁铁与准直孔同轴设置且筒状二极磁铁的外径与第一屏蔽盒的内径匹配； 筒状吸收体，套设在筒状二极磁铁内，筒状吸收体与准直孔同轴设置，用于吸收电子和离子； 半导体像素探测器，安装在所述第二屏蔽盒内远离准直组件的一侧，并与准直孔同轴设置； 散射体，安装在半导体像素探测器靠近准直组件的一侧，并与准直孔同轴设置； 滤片，安装在准直组件与第二屏蔽盒之间； 该短脉冲X射线源偏振测量仪的工作步骤如下： 入射的X射线通过准直组件落入散射体上以产生散射光子，并通过半导体像素探测器探测出散射光子信号； 利用半导体像素探测器获取散射光子能量的测量值E1，基于测量值E1计算出X射线光子的能量E0； 利用半导体像素探测器获取散射光子像素位置； 基于散射光子像素位置，然后通过数据拟合获取X射线的偏振方向和偏振度。

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