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龙图腾网恭喜中国科学院光电技术研究所申请的专利一种基于参考图像预处理的扩展目标哈特曼波前探测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115661182B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211456008.X，技术领域涉及：G06T7/13；该发明授权一种基于参考图像预处理的扩展目标哈特曼波前探测方法是由谭毅;温淋雄;杨立良;周悦设计研发完成，并于2022-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于参考图像预处理的扩展目标哈特曼波前探测方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于参考图像预处理的扩展目标哈特曼波前探测方法。该方法通过修改模板占中心子孔径的比例以及利用相关图像处理边缘提取，可以提升扩展目标相关哈特曼波前探测的稳定性和精度。本发明将优化算法和图像处理相结合，减少了扩展目标哈特曼探测中波前复原残差。这种图像预处理方法流程简单、稳定，易实现，为扩展目标波前探测系统更好地应用于天文观测、激光高光束质量传输、目标识别、目标成像等波前探测领域提供技术支撑。

本发明授权一种基于参考图像预处理的扩展目标哈特曼波前探测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于参考图像预处理的扩展目标哈特曼波前探测方法，其特征在于：该方法实现步骤如下： 步骤1）从子孔径单元为2P-1×2P-1或2P×2P的哈特曼传感器上获取子孔径图像阵列，将哈特曼子孔径阵列中心的子孔径作为参考图像I的选取位置，该子孔径对应行数和列数均为P，参考图像I的像素大小为M×M，单像素灰度值用表示，x,y为像素二维坐标值，单孔径图像大小为N×N，单像素灰度值用表示，是单子孔径图像中心像素点与参考图像I中心像素点在横纵两个方向上的偏移，N≥M； 步骤2）参考图像I在中心子孔径内横纵两个方向的起始位置坐标值与中心子孔径在横纵方向的像素大小的比值记为TemplateL，在横纵两个方向上的像素大小占中心子孔径在横纵方向的像素大小的比值记为TemplateR，TemplateL和TemplateR的实际取值根据扩展目标在哈特曼子孔径中所占像素数，以及子孔径图像背景情况确定； 步骤3）将参考图像I的像素灰度值数据格式转换为double类型并进行归一化处理，使灰度值范围在[0,1]之间；然后范围在的灰度值通过映射关系转换到[0,1]范围，其中为转换区间像素值下限，为转换区间像素值上限，，转换后，像素值对应为0，对应为1，小于的像素值置为0，高于的像素值置为1，得到参考图像的转换图像J，接着用边缘提取算子将参考图像I的图像边缘提取出来，并同样把灰度值数据类型转化为double类型，得到边缘图像K，将图像J与图像K叠加形成新的图像H； 步骤4）以图像H作为参考图像，利用归一化相关算法NCC计算得到尺寸为N+M-1×N+M-1的归一化相关系数矩阵，相关系数计算公式如式（1）所示，其中为参考图像像素平均灰度值，为单子孔径图像像素平均灰度值，为单子孔径图像实时像素灰度值，为参考图像实时像素灰度值，相关系数矩阵元素中的最大值，即为所需的偏移值： （1）。

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