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龙图腾网恭喜中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所申请的专利一种高反光表面腐蚀特征提取方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114596271B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210196590.4，技术领域涉及：G06V10/77；该发明授权一种高反光表面腐蚀特征提取方法是由邹志;孙安斌;甘晓川;樊晶晶;马骊群设计研发完成，并于2022-03-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高反光表面腐蚀特征提取方法在说明书摘要公布了：本发明公开的一种腐蚀环境试验腐蚀图像特征提取方法，属于环境试验领域。本发明通过将原始腐蚀样件RGB图像转换到饱和度图像，使腐蚀特征区域相比于背景对比更为明显；通过在图像金字塔的不同分辨率图像中应用灰度共生矩阵，提取不同尺度特征的腐蚀图像；通过初步提取的腐蚀特征的边缘统计信息，经过对所述边缘统计信息进行基于K‑means的无监督分类，实现在初提取的目标中干扰项的去除，实现反光表面腐蚀特征提取。本发明还能够快降低成像设备阴影造成的“伪腐蚀特征”对检测结果的干扰，提高检测精度，同时也能够减小由于刻意回避拍摄设备在高反射率的被测平面上出现阴影，而采用倾斜角度拍摄的问题，进而能够降低图像的失真程度。

本发明授权一种高反光表面腐蚀特征提取方法在权利要求书中公布了：1.一种适用于高反光表面样件的腐蚀特征提取方法，其特征在于：包括以下步骤， 步骤一：计算原始彩色图像的饱和度，得到与原始图像尺寸相同的饱和度图像； 步骤二：对原始图像尺寸饱和度图像进行下采样，并对下采样的图像再次进行下采样，如此进行多次迭代，得到由多幅多分辨率图像构成的饱和度图像金字塔； 步骤三：针对饱和度图像金字塔中每一分辨率下的图像，以每一个像素为中心，适当尺寸半径的滑动窗口内计算0°、90°、180°和270°四个方向在距离为N时的灰度共生矩阵，并计算每个中心像素的灰度共生矩阵的对比度作为该中心像素的能量值，形成纹理能量图； 所述适当尺寸为最小缺陷尺寸的十分之一； 步骤四：通过自适应阈值的方法，计算步骤三得到的全部纹理能量图，得到包括真实腐蚀特征与环境中反射造成的“伪腐蚀”在内的“腐蚀特征掩膜”二值化模板； 步骤五：合并饱和度图像金字塔中每一分辨率下的“腐蚀特征掩膜”二值化模板，得到原始图像尺寸的“初提取腐蚀特征掩膜”； 步骤六：将“初提取腐蚀特征掩膜”与原始图像进行逻辑运算，得到多个连通域；利用形态学方法对原始图像尺寸的“初提取腐蚀特征掩膜”进行边缘提取；再计算边缘区域上全部像素的梯度向量，对全部边缘的梯度向量进行特征提取，得到每个连通域的边缘统计信息； 步骤七：通过K-means方法，对所有的连通域D1,D2,…Dn的边缘统计信息进行无监督分类的，将成像设备阴影造成的“伪腐蚀特征”从“初提取腐蚀特征掩膜”去除，剩下的图像区域为真实的腐蚀特征，实现高反光表面腐蚀样件的缺陷特征的提取。

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