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龙图腾网恭喜中国电子科技集团公司第三十九研究所;中国人民解放军32063部队申请的专利一种基于CAD面型转换法建立曲面测量基准点的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119830376B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411911128.3，技术领域涉及：G06F30/10；该发明授权一种基于CAD面型转换法建立曲面测量基准点的方法是由李东伟;张新盼;靖猛;高云飞;王珂;郭可敬;王琰钧设计研发完成，并于2024-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于CAD面型转换法建立曲面测量基准点的方法在说明书摘要公布了：本发明提出一种基于CAD面型转换法建立曲面测量基准点的方法，副反射面安装之前在地面采集副反射面侧边离散点、曲面离散点、测量基准点，通过CAD面型转换方法在全局坐标系O‑XYZ下与理论数学模型进行匹配、迭代计算，获取副反射面四角固定的测量基准点在全局坐标系O‑XYZ下的坐标值作为理论坐标值。副反射面完成安装后，在全局坐标系O‑XYZ下测量副反射面四角测量基准点实测坐标值，并与其理论坐标值进行比对，实测坐标值与理论坐标值的偏差值即为副反射面三维空间绝对位置和姿态的测量调整精度。经过多次测量调整副反射面三维空间绝对位置和姿态精度优于1㎜，在双焦点反射面多波束反射面天线系统接收相应卫星电磁波电平值时满足指标要求。

本发明授权一种基于CAD面型转换法建立曲面测量基准点的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于CAD面型转换法建立曲面测量基准点的方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：对于天线系统的某一副反射面，在地面采用工业测量系统测量三组离散点集，三组离散点集分别为处于副反射面侧边的侧边离散点集，处于副反射面正面的曲面离散点集以及在副反射面正面四角布设的测量基准点集；步骤2：在三维空间分析软件中，导入全局坐标系下的副反射面理论数学模型，并将步骤1得到的侧边离散点集、曲面离散点集以及测量基准点集导入三维空间分析软件中，基于CAD面型转换法获得测量基准点在全局坐标系O-XYZ下的坐标值：步骤2.1：在三维空间分析软件中，导入全局坐标系下的副反射面理论数学模型；步骤2.2：将步骤1得到的侧边离散点集、曲面离散点集以及测量基准点集导入三维空间分析软件中；步骤2.3：旋转、移动侧边离散点集、曲面离散点集以及测量基准点集，使侧边离散点集、曲面离散点集以及测量基准点集与副反射面理论数学模型对应侧边、正面大致对齐；步骤2.4：选择侧边离散点集，与副反射面理论数学模型进行匹配计算，得到侧边离散点集与副反射面理论数学模型之间的转换矩阵并转换侧边离散点集，此过程中，曲面离散点集和测量基准点集不参与匹配计算，但是按照侧边离散点集计算结果所得转换矩阵进行转换；步骤2.5：选择曲面离散点集，与副反射面理论数学模型进行匹配计算，得到曲面离散点集与副反射面理论数学模型之间的转换矩阵并转换曲面离散点集，此过程中，测量基准点集不参与匹配计算，但是按照曲面离散点集计算结果所得转换矩阵进一步进行转换，得到测量基准点在全局坐标系O-XYZ中的坐标值；步骤3：根据步骤2得到的测量基准点在全局坐标系O-XYZ中的坐标值，作为副反射面在工业设备系统中的三维空间绝对位置和姿态的理论基准值；将副反射面实际安装后，采用工业测量系统测量副反射面上的测量基准点在全局坐标系下O-XYZ下的实际坐标值，并与所述理论基准值进行比对、调整，使副反射面实际位置和姿态趋近理论三维空间绝对位置和姿态。

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