江苏美东半导体有限公司万峰获国家专利权
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龙图腾网获悉江苏美东半导体有限公司申请的专利一种对半导体器件的检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119223710B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411777097.7,技术领域涉及:G01N1/28;该发明授权一种对半导体器件的检测方法是由万峰设计研发完成,并于2024-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种对半导体器件的检测方法在说明书摘要公布了:本发明涉及半导体器件检测技术领域,且公开了一种对半导体器件的检测方法,包括:将待检测样品中焊接引脚的面记为焊接面;对检测组和研磨面执行预处理策略,得到研磨面上的所有研磨线;记焊接面和研磨面的连接线段记为参照线段;在研磨面上与参照线段垂直的两条侧边分别记为起始侧边和终止侧边;获取参照线段中点,过中点作与起始侧边平行的直线,记为平分直线;获取检测组中需要进行检测的引脚,记为待检测引脚;将平分直线和起始侧边在研磨面上围成的面记为第一面;将平分直线和终止侧边在研磨面上围成的面记为第二面;执行判定研磨策略,获取待检测样品的研磨方向。在研磨时,不断更换研磨方向,提高研磨效率,节省时间。
本发明授权一种对半导体器件的检测方法在权利要求书中公布了:1.一种对半导体器件的检测方法,包括:获取需要进行检测的芯片,记为待检测样品;将待检测样品中焊接引脚的面记为焊接面;获取待检测样品中任意两个相互平行的焊接面,记为检测组;获取待检测样品中任意一个没有焊接引脚的面,记为研磨面;记焊接面和研磨面的连接线段记为参照线段;对检测组和研磨面执行预处理策略,得到研磨面上的所有研磨线;包括,对检测组中的任意一个焊接面:获取每个引脚的位置点;在焊接面上分别过每个位置点作垂直于参照线段的直线,与参照线段的交点记为参照点;在研磨面上分别过每个参照点作垂直于参照线段的直线,记为研磨线;在研磨面上与参照线段垂直的两条侧边分别记为起始侧边和终止侧边;获取参照线段的中点,过中点作与起始侧边平行的直线,记为平分直线;获取检测组中需要进行检测的引脚,记为待检测引脚;将平分直线和起始侧边在研磨面上围成的面记为第一面;将平分直线和终止侧边在研磨面上围成的面记为第二面;将待检测引脚在研磨面上对应的研磨线,记为执行线;执行判定研磨策略,获取待检测样品的研磨方向;执行判定研磨策略包括,获取距离平分直线最近的执行线,记为执行结束线;当只有第一面存在执行线时:将待检测样品从起始侧边开始研磨至执行结束线停止;研磨经过每条执行线时,对执行线上的待检测引脚进行检测;当只有第二面存在执行线时:将待检测样品从终止侧边开始研磨至执行结束线停止;研磨经过每条执行线时,对执行线上的待检测引脚进行检测。
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