环维电子(上海)有限公司张益铭获国家专利权
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龙图腾网获悉环维电子(上海)有限公司申请的专利针对微小瑕疵与错件的影像检测方法及其系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115855950B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211471276.9,技术领域涉及:G01N21/88;该发明授权针对微小瑕疵与错件的影像检测方法及其系统是由张益铭设计研发完成,并于2022-11-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本针对微小瑕疵与错件的影像检测方法及其系统在说明书摘要公布了:本发明提供一种针对微小瑕疵与错件的影像检测方法及其系统。物件影像辨识步骤输入物件影像至影像辨识模型而输出辨识结果。当辨识结果为第一影像时,判断辨识结果不符合物件影像。当辨识结果为第二影像时,执行以下步骤。第一特征提取步骤提取物件特征值。第二特征提取步骤输入校准影像至影像辨识模型并提取校准特征值。特征比对步骤依据校准特征值对物件特征值进行比对而产生相似度几率。辨识结果判断步骤依据阀值判断辨识结果是否符合物件影像。当相似度几率大于等于阀值时,判断辨识结果符合物件影像。借此,提升辨识结果的正确率。
本发明授权针对微小瑕疵与错件的影像检测方法及其系统在权利要求书中公布了:1.一种针对微小瑕疵与错件的影像检测方法,其特征在于,包含以下步骤: 一物件影像辨识步骤,是驱动一运算处理单元输入一物件影像至一影像辨识模型,以令该影像辨识模型对该物件影像进行影像辨识而输出一辨识结果,该影像辨识模型是经由训练多个第一影像及多个第二影像而建立,且该物件影像对应其中一该第二影像; 其中,当该辨识结果为其中一该第一影像时,该运算处理单元判断该辨识结果不符合该物件影像; 其中,当该辨识结果为其中一该第二影像时,该运算处理单元执行一辨识结果检验步骤,且该辨识结果检验步骤包含: 一第一特征提取步骤,是驱动该运算处理单元通过该影像辨识模型提取对应该物件影像的一物件特征值; 一第二特征提取步骤,是驱动该运算处理单元依据该辨识结果输入一校准影像至该影像辨识模型,并通过该影像辨识模型提取对应该校准影像的一校准特征值; 一特征比对步骤,是驱动该运算处理单元执行一特征比对软件模块,其中该特征比对软件模块依据该校准特征值对该物件特征值进行相似度比对而产生一相似度几率;及 一辨识结果判断步骤,是驱动该运算处理单元依据该相似度几率与一阀值判断该辨识结果是否符合该物件影像; 其中,当该相似度几率大于等于该阀值时,该运算处理单元判断该辨识结果符合该物件影像; 其中,当该相似度几率小于该阀值时,该运算处理单元判断该辨识结果不符合该物件影像。
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