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龙图腾网获悉杭州电子科技大学申请的专利基于JTAG标准的测试数据传输优化方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114595108B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210256431.9，技术领域涉及：G06F11/267；该发明授权基于JTAG标准的测试数据传输优化方法是由黄继业;田大海;杨宇翔;董哲康;高明煜;何志伟设计研发完成，并于2022-03-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于JTAG标准的测试数据传输优化方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于JTAG标准的测试数据传输优化方法，以IEEE1149.1协议为基础，在访问数据寄存器的过程中，在FSM的Run‑TestIdle的状态中，在PC端的上位机上生成的压缩测试集利用JTAG端口的TDI引脚传输到电路的SRAM，利用高频时钟解码电路进行快速解码，解码进入一个缓冲电路，等待FSM的Shift‑DR状态，移入扫描链路中。其中压缩编码以FDR码为基础，给出了01交替编码的方法，是一种变长到变长的编码方法，f是与相关联的附加标志位，此编码相邻的两位附加标志位互为取反，只需记住f的初始值。此后它保持在0和1间交替，这减少测试数据位数，降低了测试集传输的时间开销。同时该方法中解码电路简单，且独立于被测电路。基于此，本方法具有极好的应用前景。

本发明授权基于JTAG标准的测试数据传输优化方法在权利要求书中公布了：1.一种基于JTAG标准的测试数据传输优化方法，包括以下步骤： S1、建立原始测试数据集； S2、构建码表，所述码表包括以K表示的组号、以L表示的序列长度、前缀码、组内编码、由前缀码和组内编码级联而成的编码字； 所述码表的构建方法为： S2-1、K＝1时，第K组包括两条记录；若L＝1，前缀码＝0，组内编码＝0；若L＝2，前缀码＝0，组内编码＝1； S2-2、当K1时，第K组包括2K条记录； S2-3、在第K组，前缀码由K-1位1和一位0级联组成，组内编码由K位二进制序列构成，从0递增到2K依次排列； S3、上位机依据码表对原始测试数据集进行编码压缩,得到压缩测试数据集； 所述上位机依据码表对原始测试数据集进行编码压缩的方法为： S3-1、初始化标志位f，该f对应一个默认的游程类型； S3-2、对测试数据集进行序列类型划分，记录第一个连续序列与默认连续序列不符，f取反；符合，则f不变，将f放在压缩测试集的第一位； S3-3、获取当前连续序列的序列长度L查码表得到其序列对应的编码字； S3-4、输出当前连续序列对应的编码字； S3-5、重复S3-3和S3-4直到整个测试集编码结束，得到连续的压缩测试集； S4、将S3中得到的压缩测试数据集通过JTAG端口的TDI管脚传输到SRAM； S5、访问SRAM，通过解码器对压缩测试数据集进行解码，进入TDI缓冲队列，等待TAPController中的TMS控制。

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