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龙图腾网恭喜上海卫星工程研究所申请的专利应用于高轨卫星的抗总剂量加固优化计算方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114510782B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210081744.5，技术领域涉及：G06F30/15；该发明授权应用于高轨卫星的抗总剂量加固优化计算方法及系统是由束山山;李庆;韦锡峰;李强;贾奥男;廖明;何海燕设计研发完成，并于2022-01-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本应用于高轨卫星的抗总剂量加固优化计算方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种应用于高轨卫星的抗总剂量加固优化计算方法及系统，涉及卫星抗辐射设计技术领域，面向高效费比，构建卫星抗总剂量加固的效费比优化模型。该模型将抗总剂量设计余量RDM作为评价指标，以不同类型的星用元器件的质量等级、抗总剂量能力为核心参数，建立抗总剂量加固成本与元器件等级、屏蔽质量的参数模型。然后以效费比为目标函数，采用基于梯度的优化方法，对卫星抗总剂量加固进行优化设计，并对优化过程中的不确定性进行分析讨论。本发明可操作性与可实现性强，能够在满足卫星寿命和抗总剂量加固要求的前提下，提高卫星系统的在轨可靠性，并有效降低研制成本。

本发明授权应用于高轨卫星的抗总剂量加固优化计算方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种应用于高轨卫星的抗总剂量加固优化计算方法，其特征在于，包括： 步骤S1：梳理卫星抗总剂量加固的优化设计流程，构建卫星系统的抗总剂量加固的效费比模型，即ROI＝BB0·C，其中ROI为效费比；B为元器件抗总剂量能力；B0为元器件抗总剂量指标；C为抗总剂量加固成本； 步骤S2：根据卫星发射窗口、运行轨道、寿命要求、太阳活动以及地磁场在内的相关因素，对卫星寿命期内空间辐射环境进行仿真，获得卫星目标轨道的剂量深度曲线； 步骤S3：简化卫星三维模型，计算时最小单元考虑为单机仪器盒，计算星上材料的等效屏蔽厚度，对卫星结构展开三维总剂量精细化仿真，得到星内辐射总剂量水平B0； 步骤S4：确定优化对象，为确保其包含的元器件在预期任务的辐射环境中不失效，对其分配合理的设计余量RDM； 步骤S5：根据B'＝B0·RDM计算优化对象的抗总剂量指标要求B'，进行元器件选型，选择抗辐射能力满足指标要求B'的元器件，确定其质量等级Mr和抗总剂量能力B； 步骤S6：计算优化对象的抗总剂量加固成本C； 步骤S7：以优化对象的效费比ROI为目标函数，在变量区间内找到使目标函数下降最快的方向和迭代步长；对优化对象的抗总剂量加固设计方案，不断优化和迭代，直到获得最优效费比的抗加设计方案； 步骤S8：针对运行在辐射环境恶劣的高轨卫星，在上述目标的优化设计完成后，继续选取其他总剂量辐射水平偏高的单机或分系统为目标，进行优化设计，重复步骤S4～步骤S7； 步骤S9：对优化过程中的不确定性进行分析，包括元器件抗辐射能力B的不确定性、抗总剂量指标B0的不确定性以及抗总剂量加固成本C的不确定性。

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