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龙图腾网恭喜广东工业大学申请的专利一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114360626B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111619955.1，技术领域涉及：G11C29/48；该发明授权一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架是由唐振华;梁展恒;植睿麟设计研发完成，并于2021-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架在说明书摘要公布了：本发明实施例涉及一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架，包括：移动终端、闪存测试装置和多个测试连接端；移动终端用于操控闪存测试装置的运行；测试连接端用于与待测闪存存储设备连接；闪存测试装置用于对与每个测试连接端连接的待测闪存存储设备进行性能测试。该多功能闪存测试架通过在闪存测试装置上设置有与待测闪存存储设备的测试连接端，之后通过闪存测试装置对不同类型的待测闪存存储设备进行性能测试，实现对不同闪存芯片进行性能测试，与现有一种闪存芯片制作一种闪存测试架相比，能够减少生产厂家制作闪存测试架的成本，扩宽了该多功能闪存测试架测试产品的兼容性，使得该基于多个测试端口的多功能闪存测试架适用性更强。

本发明授权一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架在权利要求书中公布了：1.一种基于多个测试端口的多功能闪存测试架，其特征在于，包括移动终端、闪存测试装置和多个测试连接端，所述移动终端与所述闪存测试装置连接，多个所述测试连接端设置在所述闪存测试装置上； 所述移动终端，用于操控所述闪存测试装置的运行； 所述测试连接端，用于与待测闪存存储设备连接； 所述闪存测试装置，用于对与每个所述测试连接端连接的待测闪存存储设备进行性能测试； 其中，所述性能测试至少包括闪存速度、闪存稳定性和老化性能； 所述闪存测试装置包括控制板以及设置在所述控制板上的闪存测试电路，所述闪存测试电路包括与所述测试连接端连接的第一测试电路、第二测试电路和第三测试电路，所述第一测试电路通过连接接口分别与所述第二测试电路和所述第三测试电路连接，所述第一测试线路包括与所述测试连接端连接的控制芯片以及与所述控制芯片连接的GANG模块、SPI模块、供电模块和防护模块； 所述控制芯片，用于控制所述GANG模块、所述SPI模块和所述防护模块的运行； 所述GANG模块，用于检测所述控制芯片的状态； 所述SPI模块，用于与SPI芯片连接以使外挂SPI进行固定更新； 所述供电模块，用于至少给所述控制芯片、所述GANG模块、所述SPI模块和所述防护模块提供电源，还用于根据与所述测试连接端连接的待测闪存存储设备提供不同的电源； 所述防护模块，用于对所述控制芯片进行ESD防护。

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