买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉北京芯可鉴科技有限公司申请的专利绝缘介质层经时击穿寿命预测方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119556092B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510121401.0，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权绝缘介质层经时击穿寿命预测方法、装置、设备及介质是由鹿祥宾;王文赫;董广智;王立城;单书珊;张肖;刘波;刘佳艺设计研发完成，并于2025-01-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本绝缘介质层经时击穿寿命预测方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请涉及半导体器件工艺可靠性测试技术领域，公开了一种绝缘介质层经时击穿寿命预测方法、装置、设备及介质，方法包括：对多个待预测器件中的绝缘介质层进行斜坡电压测试；根据斜坡电压测试结果、标称绝缘介质层厚度及指定电压确定各待预测器件的击穿电场强度；根据TDDB对应的电场加速模型及各待预测器件的击穿电场强度确定各绝缘介质层的TDDB寿命；电场加速模型中的常数利用对历史器件进行TDDB测试得到的TDDB测试结果确定。本申请公开的方案，通过对待预测器件进行斜坡电压测试并结合历史器件的TDDB测试结果实现对绝缘介质层TDDB寿命的预测，提高绝缘介质层TDDB寿命预测效率，实现快速有效进行TDDB寿命评估。

本发明授权绝缘介质层经时击穿寿命预测方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种绝缘介质层经时击穿寿命预测方法，其特征在于，包括： 对多个待预测器件中的绝缘介质层进行斜坡电压测试，得到斜坡电压测试结果；各所述待预测器件采用相同工艺制备； 根据所述斜坡电压测试结果、标称绝缘介质层厚度及指定电压确定各所述待预测器件对应的击穿电场强度； 获取TDDB对应的电场加速模型，根据所述电场加速模型及各所述待预测器件对应的击穿电场强度确定各所述绝缘介质层的TDDB寿命；所述电场加速模型中包含电场强度参数，所述电场加速模型中的常数利用对历史器件进行TDDB测试得到的TDDB测试结果确定，所述历史器件与所述待预测器件采用相同工艺制备； 所述斜坡电压测试结果包括第一预设比例的所述待预测器件出现击穿时的第一击穿电压以及各所述待预测器件的第二击穿电压； 根据所述斜坡电压测试结果、标称绝缘介质层厚度及指定电压确定各所述待预测器件对应的击穿电场强度，包括： 根据所述第一击穿电压及所述标称绝缘介质层厚度确定固有击穿电场强度； 根据各所述待预测器件的第二击穿电压、所述固有击穿电场强度确定各所述绝缘介质层的厚度； 根据所述指定电压及各所述绝缘介质层的厚度确定各所述待预测器件对应的击穿电场强度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京芯可鉴科技有限公司，其通讯地址为：102299 北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。