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龙图腾网获悉上海量维信息科技有限公司申请的专利一种适用于颗粒增强复合材料的无接触式微观应变测量方法、装置、电子设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119289887B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411804275.0，技术领域涉及：G01B11/16；该发明授权一种适用于颗粒增强复合材料的无接触式微观应变测量方法、装置、电子设备及介质是由张丰果;邱贵顺设计研发完成，并于2024-12-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种适用于颗粒增强复合材料的无接触式微观应变测量方法、装置、电子设备及介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种适用于颗粒增强复合材料的无接触式微观应变测量方法、装置、电子设备及介质，该方法包括根据颗粒和基体之间的灰度差异，采用自适应算法生成圆框组，所述圆框组中的每个圆框包含一个所述颗粒；计算所述圆框组中的每个圆框中的颗粒的刚体运动，得到颗粒位移数据组；根据所述颗粒位移数据组，采用移动最小二乘法拟合得到每个所述颗粒间的基体的应变。该方法无需人工制备斑纹，仅借助增强相和基体之间的灰度差异来实现颗粒增强复合材料表面变形精确测量。

本发明授权一种适用于颗粒增强复合材料的无接触式微观应变测量方法、装置、电子设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种适用于颗粒增强复合材料的无接触式微观应变测量方法，其特征在于，所述测量方法包括： 根据颗粒和基体之间的灰度差异，采用自适应算法生成圆框组，所述圆框组中的每个圆框包含一个所述颗粒； 计算所述圆框组中的每个圆框中的颗粒的刚体运动，得到颗粒位移数据组； 根据所述颗粒位移数据组，采用移动最小二乘法拟合计算得到每个所述颗粒间的基体的应变； 所述圆框内部的灰度梯度的数量使用所述圆框内的灰度梯度平方和表示，如式1所示； 式1； 其中，SSSIG表示圆框所有像素的灰度梯度平方和，表示圆框内第i个像素的灰度梯度，i为像素的编号； 所述自适应算法包括： 选定连续像素区域，所述连续像素区域中的每个像素的灰度大于第一阈值，假设颗粒的灰度值大于基体的灰度值； 计算所述区域的灰度加权中心作为圆框的中心，并给定所述圆框的初始半径； 计算所述圆框内的灰度梯度平方和，记为SSSIG0；将所述圆框的半径增加一个像素，再次计算圆框内的灰度梯度平方和，记为SSSIG1；若SSSIG1-SSSIG0SSSIG0小于第二阈值，且SSSIG1大于第三阈值，则输出该圆框；若SSSIG1-SSSIG0SSSIG0大于第二阈值，则半径再增加一个像素，计算圆框内的灰度梯度平方和，记为SSSIG2，判断SSSIG2-SSSIG1SSSIG1与第二阈值的关系；重复上述步骤至SSSIGn-SSSIGn-1SSSIGn-1小于第二阈值，且SSSIGn大于第三阈值，则输出该圆框；若SSSIGn小于第三阈值，则放弃所述区域，n为大于等于1的整数； 所述第一阈值为基体和颗粒交界处灰度值，确保圆框内所有像素在颗粒处； 所述第二阈值为灰度梯度平方和最低相对增量，确保所选取的圆框内灰度梯度平方和不会随着半径增加而发生显著增长； 所述第三阈值为最低圆框内灰度梯度平方和，确保所选圆框内有足够灰度梯度平方和来确保DIC测量精度。

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