买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉广州科盛隆纸箱包装机械有限公司申请的专利一种瓦楞纸箱印刷缺陷程度评估方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119169327B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411201723.8，技术领域涉及：G06V10/762；该发明授权一种瓦楞纸箱印刷缺陷程度评估方法及系统是由何炳宇;曾伟军;何慧锋设计研发完成，并于2024-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种瓦楞纸箱印刷缺陷程度评估方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种瓦楞纸箱印刷缺陷程度评估方法及系统，包括检测待测瓦楞纸箱印刷后的平整度，筛选出满足预设条件的待测瓦楞纸箱作为目标检测对象，采集其印刷图像，经特征提取后输入到聚类算法中的X种缺陷类型进行聚类，根据聚类结果确定目标特征的缺陷分析结果，当聚类结果为X种缺陷类型时，根据目标特征所在的聚类簇确定对应的缺陷类型和数量；当聚类结果为大于X种缺陷类型时，采用光谱分析确定目标特征的缺陷类型和数量；计算待测瓦楞纸箱的印刷缺陷程度，反馈调节瓦楞纸箱的下一印刷参数。本发明考虑平整度的影响，通过聚类算法确定缺陷类型以评估缺陷程度，并对下一印刷参数反馈调节，提升了缺陷评估的准确性及下一印刷过程的成品率。

本发明授权一种瓦楞纸箱印刷缺陷程度评估方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种瓦楞纸箱印刷缺陷程度评估方法，其特征在于，所述方法包括： 检测待测瓦楞纸箱印刷后的平整度，筛选出平整度满足预设条件的待测瓦楞纸箱作为目标检测对象； 所述检测待测瓦楞纸箱印刷后的平整度，包括： 式中，Ffl表示平整度因子，α、β为常数系数，满足0α0.01，0β1；T、P分别表示瓦楞纸箱印刷过程中的温度和压力，W表示瓦楞纸箱的含水量；H、L分别表示瓦楞纸箱纸板的厚度和长度；E、I分别表示瓦楞纸箱的纸板弹性模量和结构惯性矩，e为自然对数的底数； 采集目标检测对象的印刷图像，对印刷图像进行特征提取，将提取的目标特征输入聚类算法中的X种缺陷类型进行聚类，得到聚类结果； 根据聚类结果确定目标特征的缺陷分析结果，包括当聚类结果为X种缺陷类型时，根据目标特征所在的聚类簇确定对应的缺陷类型和缺陷特征数量；当聚类结果为大于X种缺陷类型时，采用光谱分析确定目标特征的缺陷类型和缺陷特征数量； 利用缺陷分析结果以及目标检测对象的数量计算待测瓦楞纸箱的印刷缺陷程度，根据印刷缺陷程度反馈调节瓦楞纸箱的下一印刷参数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人广州科盛隆纸箱包装机械有限公司，其通讯地址为：511400 广东省广州市番禺区石壁街石壁一村谢石公路77号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。