合肥埃科光电科技股份有限公司王志明获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥埃科光电科技股份有限公司申请的专利一种滤镜瑕疵检测方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115656192B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211673102.0,技术领域涉及:G01N21/88;该发明授权一种滤镜瑕疵检测方法及装置是由王志明;邵云峰;曹桂平;董宁设计研发完成,并于2022-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种滤镜瑕疵检测方法及装置在说明书摘要公布了:本发明的一种滤镜瑕疵检测方法及装置,包括:穿过滤镜的平行光落在相机的传感器上;对相机进行平场校正,保存平场校正系数;改变相机或滤镜,与平行光之间的相对位姿,以使平行光透过滤镜投射在传感器上的位置发生相对变化;相机保持平场校正系数不变,采集相机或滤镜与平行光之间不同相对位姿的图片;对所述图片进行预处理,找到所述图片中灰度值发生变化的区域,根据预处理后的图片得到瑕疵检测结果。本发明通过平场校正前后瑕疵处的灰度值变化来检测瑕疵,可以检出人眼难以直接看出的瑕疵区域,可以检出和背景接近的灰尘,适用于检测精度较高的场景。
本发明授权一种滤镜瑕疵检测方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种滤镜瑕疵检测方法,其特征在于,包括: 穿过滤镜的平行光投射相机的传感器上; 对相机进行平场校正,保存平场校正系数; 改变相机和滤镜,与平行光之间的相对位姿,以使平行光透过滤镜投射在传感器上的位置发生相对变化; 相机保持平场校正系数不变,采集相机和滤镜与平行光之间不同相对位姿的图片; 对所述图片进行预处理,找到所述图片中灰度值发生变化的区域,根据预处理后的图片得到瑕疵检测结果; 其中,所述相机保持平场校正系数不变,采集相机和滤镜与平行光之间不同相对位姿的图片,包括: 调节相机与待测滤镜相对平行光的位姿,使平行光垂直穿过滤镜落到相机传感器上,相机平场校正系数不变,采集图片1; 平行光入射角度不变,相机和待测滤镜一起,分别向左和向右旋转设定的角度,平场校正系数不变,相机在所述旋转后分别采集图片2和图片3; 所述对所述图片进行预处理,找到所述图片中灰度值发生变化的区域,根据预处理后的图片得到瑕疵检测结果,包括: 所述图片1分别与图片2和图片3进行差分,得到两张差分图像;合并两张差分图像上的瑕疵区域,所述瑕疵区域为灰度值发生变化的区域,得到瑕疵检测结果; 其中,角度的设定过程为:向左旋转一定的角度后,相机采集到的图像,由于平场校正系数不变,原本的瑕疵区域会变亮,瑕疵区域投影的新位置则会变暗,形成明暗的两个圆;向右旋转的设定角度与向左旋转的设定角度相同。
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