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龙图腾网获悉长春理工大学中山研究院申请的专利一种n×n二维阵列激光损伤测试点的损伤判识方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115587970B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211126171.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种n×n二维阵列激光损伤测试点的损伤判识方法是由王菲;张书伟;黄一芮;李玉瑶;王小白;吕宣德;田明;罗宽设计研发完成，并于2022-09-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种n×n二维阵列激光损伤测试点的损伤判识方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种n×n二维阵列激光损伤测试点的损伤判识方法，该方法通过定位每个测试点的中心位置，根据测试点阵的间隔对阵列点损伤图像进行分割，将损伤前后的图像经过小波变换和图像分割后进行相关运算来获得相关系数，利用统计学与相衬显微镜相结合的方式确定相关系数的阈值，通过对比相关系数与相关系数的阈值来实现对二维阵列测试点损伤情况的快速判识，显著提高了损伤判识的效率。

本发明授权一种n×n二维阵列激光损伤测试点的损伤判识方法在权利要求书中公布了：1.一种n×n二维阵列激光损伤测试点的损伤判识方法，其特征在于该方法分为以下步骤： 第一步，阵列损伤测试图像的分割： 步骤1-1、获取一幅n×n二维阵列激光损伤测试点完全损伤的图像； 步骤1-2、对所述n×n二维阵列激光损伤测试点完全损伤的图像使用OTSU阈值法进行二值化处理； 所述的OTSU阈值法为：记t为前景与背景的分割阈值，前景点数占图像比例为p1，平均灰度为m1，背景点数占图像比例为p2，平均灰度为m2，则图像的总平均灰度为： m＝p1m1+p2m21 前景和背景图象的方差： σ2＝p1m1-m2+p2m2-m22 当前景和背景的差别最大，即方差σ2最大，则此时的灰度为最佳阈值； 步骤1-3、根据就近原则对经过步骤1-2二值化处理图像中的全部损伤点划分成n×n个损伤点集； 步骤1-4、采用最小二乘法对每个损伤点集进行包络圆拟合，从而获得该损伤点集的圆心位置Oixi,yi； 步骤1-5、根据公式3求取任意两个中心点间距离Li，记录Li的最大值LM及其对应的两点坐标Oixi,yi、Ojxj,yj； 步骤1-6、分别以Oixi,yi和Ojxj,yj点为圆心，以LM[2n-1]为半径画圆，则此两圆与Oixi,yi和Ojxj,yj点连线的延长线相交于两点Pi和Pj，则线段PiPj长度为n×LMn-1； 步骤1-7、通过平移方式将以PiPj为对角线的正方形图像区域均匀分割成n×n个正方形子单元图像，则该正方形子单元图像的边长为即阵列损伤测试点的间隔； 第二步，获取一幅无损伤的正方形图像，该无损伤的正方形图像尺寸与步骤1-7中正方形子单元图像的边长相同； 第三步，对阵列损伤测试点图像的损伤情况进行判识： 步骤3-1、获取一幅经过n×n二维阵列激光辐照的图像，阵列损伤测试点的间隔为 步骤3-2、按照第一步方式将步骤3-1获取的图像分割成n×n个正方形子单元图像； 步骤3-3、对第二步与步骤3-2获得的两幅正方形子单元图像分别进行小波变换处理，并对两层小波分解下的小波进行去噪处理； 步骤3-4、根据公式4对经过步骤3-3处理后的各正方形子单元图像分别与第二步获得的正方形子单元图像进行相关系数计算； 式中ix,y、fx,y分别表示经过小波变换后的损伤前和损伤后图像； 步骤3-5、利用统计学与相衬显微镜相结合的方式确定相关系数的阈值HT； 步骤3-6、步骤3-4中计算的相关系数H≥HT，则该正方形子单元图像损伤，即该损伤测试点的图像损伤。

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