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龙图腾网获悉成都市晶林科技有限公司申请的专利一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115406542B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210691914.1，技术领域涉及：G01J5/53；该发明授权一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法是由路璐;赵勋;朱裕莎;姜立涛;黄安明;曾衡东设计研发完成，并于2022-06-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法，它包括以下步骤：步骤A，温度试验箱内采集多个过程数据，所述过程是指温度试验箱在某一温度下，红外非制冷探测器从冷开机到拷机的数据采集过程，所述多个过程是指温度试验箱的设置温度有N个，每个温度下过程的数据采集流程相同；步骤B，最优温升估计；步骤C：动态本底估计及非均匀性校正：按照最优温升估计所得最优偏移量，在所述多个过程数据中寻找就近过程，并在每个就近过程中所得的本底构成动态本底；步骤D：跟随：在所得校正结果进行指标计算，判断是否调整搜素步长和漂移量变化量数组。

本发明授权一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法在权利要求书中公布了：1.一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法，包括： 步骤A，温度试验箱内采集多个过程数据，过程是指温度试验箱在某一温度下，探测器从冷开机到拷机的数据采集过程； 步骤B，最优温升估计： 步骤B1，当前探测器温度v在漂移量dv的叠加下，在步骤A所得的多个过程中寻找就近过程,记就近过程的本底数据为，对应探测器温度数据记为，，： 对步骤A所得的第k个过程，判断在漂移量的叠加下的当前探测器温度v+dv是否在该过程的探测器温度范围内，若是则该过程被认为是就近过程，加入集合，；对k遍历[1,M]； 步骤B2，在步骤B1所得就近过程中，搜索最优开机点漂移量，dv初始化为0，包括： 步骤B21，取探测器在时间上连续采集的3帧原始图像数据，记为，及对应的3个探测器温度为，漂移量变化量数组Index； 步骤B22，连续的3帧原始数据按漂移量dv、各自的漂移量变化量，在步骤B1所得就近过程中，寻找就近本底，并进行校正； 步骤B23，对连续3帧原始数据的校正结果计算指标，指标为校正结果平坦区域内的局部方差和，i为连续3帧的序号，i=1,2,3；平坦区域，可通过统计窗口内清晰度指标获取，并让窗口在全图范围内滑动，清晰度指标最小的位置即平坦区域； 步骤B24，依据步骤B23所得指标，调整漂移量dv、搜索步长step、漂移量变化量数组Index，并评判是否达到搜索停止条件，若是则转向步骤C，否则继续取探测器的连续3帧原始数据，重复步骤B21～B24； 步骤C：动态本底估计及非均匀性校正：按照最优温升估计所得最优偏移量，在多个过程数据中寻找就近过程，每个就近过程中所得的本底构成动态本底； 步骤D：跟随：所得校正结果进行指标计算，判断是否调整搜索步长和漂移量变化量数组。

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