中国科学院长春光学精密机械与物理研究所王庆宇获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利浸没式中阶梯光栅光谱仪的光路结构及光谱仪获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114608704B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210380794.3，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权浸没式中阶梯光栅光谱仪的光路结构及光谱仪是由王庆宇;沈宏海;刘伟奇设计研发完成，并于2022-04-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本浸没式中阶梯光栅光谱仪的光路结构及光谱仪在说明书摘要公布了：本发明涉及成像光谱仪技术领域，具体提供一种浸没式中阶梯光栅光谱仪的光路结构以及光谱仪，所述光路结构包括入射狭缝、准直系统、主色散系统、二级色散系统、聚焦系统以及探测器；被探测物质进入所述入射狭缝，产生的入射光束入射到所述准直系统，经过所述准直系统准直后，变成平行光束；所述平行光束经过所述主色散系统进行第一次色散，再经过所述二级色散系统进行第二次色散，得到二维光谱；所述二维光谱经过所述聚焦系统聚焦后，成像至所述探测器。本发明提供的光路结构与光谱仪，不仅大大提高了光学系统的效率和光谱分辨率，也使得光谱仪在空间上更加紧凑，同时，对于制冷型红外光谱仪来说，提高了系统的稳定性。
本发明授权浸没式中阶梯光栅光谱仪的光路结构及光谱仪在权利要求书中公布了：1.一种浸没式中阶梯光栅光谱仪的光路结构，其特征在于，所述光路结构包括入射狭缝、准直系统、主色散系统、二级色散系统、聚焦系统以及探测器； 被探测物质进入所述入射狭缝，产生的入射光束入射到所述准直系统，经过所述准直系统准直后，变成平行光束；所述平行光束经过所述主色散系统进行第一次色散，再经过所述二级色散系统进行第二次色散，得到二维光谱；所述二维光谱经过所述聚焦系统聚焦后，成像至所述探测器；所述主色散系统包括浸没式中阶梯光栅；所述浸没式中阶梯光栅的浸没材料为锗，所述浸没材料折射率为4；所述浸没式中阶梯光栅的刻线密度为16groovesmm；所述浸没式中阶梯光栅的闪耀角为75°；所述二级色散系统包括凹面光栅，所述凹面光栅的曲率半径为1000mm，所述凹面光栅的刻线密度为80groovesmm；所述凹面光栅的光栅频率为85lmm。
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