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电子科技大学中山学院文琦获国家专利权

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龙图腾网获悉电子科技大学中山学院申请的专利一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114972174B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210357658.2,技术领域涉及:G06V10/764;该发明授权一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质是由文琦;熊坤坤;李文生;董帅设计研发完成,并于2022-04-06向国家知识产权局提交的专利申请。

一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本申请提供一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质,用于改善对物品包装上的缺陷进行检测的准确率较低的问题。该方法包括:获取待检测图像,待检测图像是对目标物品包装进行拍摄获得的;使用缺陷检测模型对待检测图像进行缺陷检测,获得缺陷检测结果,缺陷检测模型是使用样本图像、样本标签和样本图像对应的主动轮廓图训练获得的,样本标签表征样本图像的类别是有缺陷图像或者无缺陷图像,有缺陷图像对应的主动轮廓图是标注有包装轮廓和缺陷中心位置的图像,无缺陷图像对应的主动轮廓图是标注有包装轮廓的图像。

本发明授权一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括: 获取待检测图像,所述待检测图像是对目标物品包装进行拍摄获得的; 使用缺陷检测模型对所述待检测图像进行缺陷检测,获得缺陷检测结果,所述缺陷检测模型是使用样本图像、样本标签和所述样本图像对应的主动轮廓图训练获得的,所述样本标签表征所述样本图像的类别是有缺陷图像或者无缺陷图像,所述有缺陷图像对应的主动轮廓图是标注有包装轮廓和缺陷中心位置的图像,所述无缺陷图像对应的主动轮廓图是标注有包装轮廓的图像; 其中,在所述使用缺陷检测模型对所述待检测图像进行缺陷检测之前,还包括:获取样本图像、样本标签和所述样本图像对应的主动轮廓图;使用所述样本图像和所述样本图像对应的主动轮廓图对编码器和解码器进行训练,以及使用所述样本图像和所述样本标签对所述编码器和分类器进行训练,通过联合训练的方式获得所述缺陷检测模型; 所述获取样本图像、样本标签和所述样本图像对应的主动轮廓图,包括:获取样本图像和所述样本图像对应的样本标签;若所述样本图像对应的样本标签是有缺陷图像,则对所述样本图像中的包装轮廓和缺陷中心位置进行标注,获得第一标注图像,并根据所述第一标注图像生成所述样本图像对应的主动轮廓图;若所述样本图像对应的样本标签是无缺陷图像,则对所述样本图像中的包装轮廓进行标注,获得第二标注图像,并根据所述第二标注图像生成所述样本图像对应的主动轮廓图,所述样本图像对应的主动轮廓图用于为所述缺陷检测模型提供空间注意力机制。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人电子科技大学中山学院,其通讯地址为:528400 广东省中山市石岐区学院路1号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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