上海阵量智能科技有限公司连络获国家专利权
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龙图腾网获悉上海阵量智能科技有限公司申请的专利芯片功能的验证方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114707453B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210326211.9,技术领域涉及:G06F30/3308;该发明授权芯片功能的验证方法、装置、电子设备及存储介质是由连络;侯化成;徐宁仪设计研发完成,并于2022-03-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片功能的验证方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本公开提供了一种芯片功能的验证方法、装置、电子设备及存储介质,其中,该方法包括:获取待验证芯片的功能描述信息、以及访存模型;其中,所述访存模型通过预设编程语言生成,用于模拟提供与所述待验证芯片连接的接口、并模拟通过所述接口对存储器的访存操作;基于所述功能描述信息、以及所述访存模型,对所述待验证芯片进行仿真,得到所述待验证芯片的仿真结果;基于所述仿真结果、以及与所述待验证芯片对应的真实结果,得到所述待验证芯片的验证结果。
本发明授权芯片功能的验证方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种芯片功能的验证方法,其特征在于,包括: 获取待验证芯片的功能描述信息、以及访存模型;其中,所述访存模型通过预设编程语言生成,用于模拟提供与所述待验证芯片连接的接口、并模拟通过所述接口对存储器的访存操作;所述功能描述信息包括:所述待验证芯片中的功能模块对存储器的访存方式、以及所述待验证芯片的功能代码; 基于所述访存方式对所述访存模型进行实例化,得到所述功能模块对应的访存模型实例; 基于所述访存模型实例、以及所述功能代码,对所述待验证芯片进行仿真,得到所述待验证芯片的仿真结果; 基于所述仿真结果、以及与所述待验证芯片对应的真实结果,得到所述待验证芯片的验证结果。
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