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龙图腾网获悉上海精积微半导体技术有限公司申请的专利芯片测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114594361B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210296168.6，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权芯片测试装置及测试方法是由高双成设计研发完成，并于2022-03-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种芯片测试装置及测试方法，该装置包括时钟模块、数字信号处理模块、控制模块、通信连接电路、数模转换器和倍频模块；时钟模块用于产生频率可调节的精准时钟信号，控制模块配置数字信号处理模块得到所需频率和或相位的数字信号，数模转换器将数字信号转化为基准信号；倍频模块分别与数字信号处理模块和待测芯片电连接，倍频模块调整基准信号产生增加抖动的高速抖动信号，并对待测芯片进行测试。本发明的芯片测试装置的信号基于精准时钟信号得到，能够消除测试时的误差，提升测试结果的准确性，且能够对所述基准信号的频率和或相位进行控制，能够根据测试需求设置不同的基准信号，便于使用、且便于进行不同要求的测试。

本发明授权芯片测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括时钟模块、数字信号处理模块、控制模块、通信连接电路、数模转换器、FPGA和倍频模块；所述倍频模块为FPGA的收发器； 所述时钟模块与所述数字信号处理模块电连接，所述控制模块通过所述通信连接电路与所述数字信号处理模块电连接，所述时钟模块用于产生频率可调节的精准时钟信号，所述时钟模块将所述精准时钟信号传输给所述数字信号处理模块； 所述数字信号处理模块接收所述精准时钟信号后，获取所述精准时钟信号的波形数据，根据所述波形数据得到波形信号，所述控制模块控制所述数字信号处理模块的频率寄存器和或相位寄存器对所述波形信号的频率和或相位进行调整得到数字信号； 所述数字信号处理模块与所述数模转换器电连接，所述数字信号处理模块将所述数字信号传输至所述数模转换器，所述数模转换器将所述数字信号转换为基准信号； 所述倍频模块分别与所述数模转换器和待测芯片电连接，所述数模转换器将所述基准信号传输给所述FPGA，所述FPGA接收所述基准信号后对所述基准信号进行升频得到升频后的信号，并将升频后的信号发送给所述倍频模块以产生增加抖动的高速抖动信号，所述倍频模块将所述高速抖动信号传输至所述待测芯片进行测试。

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