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龙图腾网获悉中山大学申请的专利等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114528521B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210269235.5，技术领域涉及：G06F17/10；该发明授权等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备是由丁汝鑫设计研发完成，并于2022-03-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备在说明书摘要公布了：本申请公开了一种等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备，该方法包括：利用蒙特卡罗方法进行随机搜索，得到目标垂直剖面上每一样品的一组热史曲线；针对每组热史曲线，进行筛选、采样、取均值，得到一条目标热史曲线；计算得到各目标热史曲线对应于第一低温年代学方法的第一模拟年龄，以及，计算得到各目标热史曲线对应于第二低温年代学方法的第二模拟年龄；针对每一目标热史曲线，根据第一模拟年龄，第二模拟年龄，以及年龄测试值，计算得到所述目标热史曲线的等效测试年龄。通过将不同低温年代学方法的测试值及模拟值应用于同一热史曲线集合中，计算得到测试等效值，降低了实验成本。

本发明授权等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备在权利要求书中公布了：1.一种等效低温年代学测试年龄的计算方法，其特征在于，包括： 利用蒙特卡罗方法进行随机搜索，得到目标垂直剖面上N1个样品的N1组热史曲线，每组热史曲线包括N2条热史曲线，N1、N2为预设的数量； 基于每一目标低温年代学方法，对各热史曲线的模拟年龄进行计算，得到各热史曲线对应于每一目标低温年代学方法的模拟年龄； 针对每组热史曲线，根据其中每条热史曲线对应于每一目标低温年代学方法的模拟年龄，以及，所述热史曲线所对应的样品的年龄测试值，对所述热史曲线进行筛选，得到筛选后的一组热史曲线； 对筛选后的每组热史曲线中的各条热史曲线进行采样、取均值，得到一条目标热史曲线； 基于第一低温年代学方法，对各目标热史曲线的模拟年龄进行计算，得到各目标热史曲线对应于第一低温年代学方法的第一模拟年龄，以及，基于第二低温年代学方法，对各目标热史曲线的模拟年龄进行计算，得到各目标热史曲线对应于第二低温年代学方法的第二模拟年龄；其中，所述第一低温年代学方法与所述第二低温年代学方法为在各目标低温年代学方法中互不相同的低温年代学方法，各目标低温年代学方法包括U-ThHe年龄模拟方法和裂变径迹年龄模拟方法； 针对每一目标热史曲线，根据所述目标热史曲线对应于第一低温年代学方法的第一模拟年龄，所述目标热史曲线对应于第二低温年代学方法的第二模拟年龄，以及所述目标热史曲线对应于第一低温年代学方法的年龄测试值，计算得到所述目标热史曲线相对于第二低温年代学方法的等效测试年龄。

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