华邦电子股份有限公司葛西央伦获国家专利权
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龙图腾网获悉华邦电子股份有限公司申请的专利半导体存储装置及错误检测校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115050415B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210084847.7，技术领域涉及：G11C29/42；该发明授权半导体存储装置及错误检测校正方法是由葛西央伦;金子二四三设计研发完成，并于2022-01-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体存储装置及错误检测校正方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种半导体存储装置及错误检测校正方法，实现错误检测校正能力与写入或读出的性能的并存。本发明的闪速存储器的错误检测校正方法包括：设定步骤，设定用于选择进行1位的错误检测校正的第一错误检测校正功能或进行多位的错误检测校正的第二错误检测校正功能的选择信息；以及执行步骤，在读出动作或写入动作时，基于所设定的选择信息来执行第一错误检测校正功能或第二错误检测校正功能。
本发明授权半导体存储装置及错误检测校正方法在权利要求书中公布了：1.一种错误检测校正方法，其为半导体存储装置的错误检测校正方法，包括： 设定步骤，设定用于选择进行m位的错误检测校正的第一错误检测校正功能或进行n位的错误检测校正的第二错误检测校正功能的选择信息，m、n为自然数，m小于n； 执行步骤，在读出动作或写入动作时，基于所述选择信息来执行所述第一错误检测校正功能或所述第二错误检测校正功能；以及 转换步骤，在切换从所述第一错误检测校正功能向所述第二错误检测校正功能的动作时，将写入至存储单元阵列的与所述第一错误检测校正功能相关的第一数据转换为与所述第二错误检测校正功能相关的第二数据， 其中，所述转换步骤是利用回写功能进行的。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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