长鑫存储技术有限公司刘建斌获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种存储阵列结构测试方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116072208B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111282629.6，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储阵列结构测试方法、装置及存储介质是由刘建斌;马茂松设计研发完成，并于2021-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储阵列结构测试方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供了一种存储阵列结构测试方法、装置及存储介质；方法包括：对应于每种预设测试模式，向待测存储阵列中写入存储数据；每种预设测试模式属于预设测试模式库中的一种；对待测存储阵列重复进行行攻击测试，若存储数据出现比特翻转错误，则停止行攻击测试，得到待测存储阵列在每种预设测试模式下对应的行攻击测试次数；比特翻转错误表征存储数据发生改变；基于行攻击测试次数，在预设测试模式库中确定出待测存储阵列对应的目标预设测试模式；基于目标预设测试模式，确定待测存储阵列的阵列结构。本申请能够降低反向设计的成本，简化反向设计的流程。
本发明授权一种存储阵列结构测试方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种存储阵列结构测试方法，其特征在于，包括： 对应于每种预设测试模式，向待测存储阵列中写入存储数据；所述每种预设测试模式属于预设测试模式库中的一种； 对所述待测存储阵列重复进行行攻击测试，若所述存储数据出现比特翻转错误，则停止所述行攻击测试，得到所述待测存储阵列在所述每种预设测试模式下对应的行攻击测试次数；所述比特翻转错误表征所述存储数据发生改变； 基于所述行攻击测试次数，在所述预设测试模式库中确定出所述待测存储阵列对应的目标预设测试模式； 基于所述目标预设测试模式，确定所述待测存储阵列的阵列结构。
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