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龙图腾网恭喜深圳市道格特科技有限公司申请的专利一种用于确定目标测试方案的方法、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119965113B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510443328.9，技术领域涉及：H01L21/66；该发明授权一种用于确定目标测试方案的方法、设备及介质是由刘志广;张华;刘久源设计研发完成，并于2025-04-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于确定目标测试方案的方法、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请涉及半导体测试技术领域。尤其是涉及一种用于确定目标测试方案的方法、设备及介质。该方法包括：获取待测试晶圆的芯片分布信息以及目标测试条件，其中，芯片分布信息包括矩阵排列的多个芯片以及每个芯片的测试需求信息；根据探针卡的测试能力、多个芯片的位置坐标信息生成待测试晶圆对应的候选测试步骤，其中，候选测试步骤包括探针卡单次覆盖的芯片的位置坐标信息；根据候选测试步骤确定待测试晶圆的目标测试方案，其中，目标测试方案包括多个目标测试步骤，目标测试方案满足目标测试条件。实现自动智能化确定满足目标测试条件的目标测试方案的目的。实现了测试路径的智能化确定，提高效率。

本发明授权一种用于确定目标测试方案的方法、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种用于确定目标测试方案的方法，其特征在于，所述方法包括: 获取待测试晶圆的芯片分布信息以及目标测试条件，其中，所述芯片分布信息包括矩阵排列的多个芯片以及每个芯片的测试需求信息； 根据探针卡的测试能力、所述多个芯片的位置坐标信息生成所述待测试晶圆对应的候选测试步骤，其中，所述候选测试步骤包括所述探针卡单次覆盖的芯片的位置坐标信息，所有的候选测试步骤能够覆盖所述矩阵排列的多个芯片； 初始化芯片集合，其中，所述芯片集合中包括所述多个芯片中需要被测试的芯片； 选择包括所述芯片集合中的芯片数量最多的候选测试步骤作为初始测试方案中的初始测试步骤； 将所述初始测试步骤中包括的芯片从所述芯片集合中删除，以更新所述芯片集合； 从剩余候选测试步骤中选择包括更新后的所述芯片集合中的芯片数量最多的候选测试步骤作为所述初始测试方案中的初始测试步骤； 重复上述步骤，直至所述芯片集合中的芯片为零，以得到所述初始测试方案； 计算每个初始测试方案的适应度，其中，f＝a-b*x，在此，所述f包括所述适应度，所述a包括测试覆盖率，所述b包括测试步骤数，所述x包括权重； 将适应度等于或大于第一适应度阈值的初始测试方案进行交叉、变异处理，以得到满足所述目标测试条件的目标测试方案，其中，所述目标测试条件适应度等于或大于第二适应度阈值。

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