恭喜先之科半导体科技(东莞)有限公司文志军获国家专利权
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龙图腾网恭喜先之科半导体科技(东莞)有限公司申请的专利一种基于数据模型的电子元器件噪声测试系统及测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119916093B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510409214.2,技术领域涉及:G01R29/26;该发明授权一种基于数据模型的电子元器件噪声测试系统及测试方法是由文志军设计研发完成,并于2025-04-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于数据模型的电子元器件噪声测试系统及测试方法在说明书摘要公布了:本发明涉及电子元器件测试技术领域,公开了一种基于数据模型的电子元器件噪声测试系统及测试方法。本方法包括:在电子元器件工作过程中,获取所述电子元器件的当前工作环境参数数据,并输入至预先训练好的噪声特征提取模型中,得到噪声特征数据;根据所述噪声特征数据,进行噪声对比操作,得到所述噪声预测模型的模型调整参数;根据所述模型调整参数,进行差异程度调整操作,得到调整后噪声预测模型;根据所述调整后噪声预测模型,进行噪声预测操作,得到所述电子元器件的预测噪声特征。本发明能够实现提高噪声测试的准确性。
本发明授权一种基于数据模型的电子元器件噪声测试系统及测试方法在权利要求书中公布了:1.一种基于数据模型的电子元器件噪声测试方法,其特征在于,包括:在电子元器件工作过程中,获取所述电子元器件的当前工作环境参数数据,并输入至预先训练好的噪声特征提取模型中,得到噪声特征数据;根据所述噪声特征数据,进行噪声对比操作,得到初始噪声预测模型的模型调整参数;根据所述模型调整参数,进行差异程度调整操作,得到调整后噪声预测模型;根据所述调整后噪声预测模型,进行噪声预测操作,得到所述电子元器件的预测噪声特征;其中,所述噪声特征提取模型的训练过程包括:获取历史工作环境参数数据,所述历史工作环境参数数据包括温度、电压以及电流;根据所述历史工作环境参数数据,进行数据预处理和参数范围确定操作,得到参数范围;根据所述参数范围,进行参数数值区间转换操作,得到参数对应的数值区间;根据所述数值区间,进行支持向量机回归操作,得到噪声特征提取模型。
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