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龙图腾网获悉深圳市普耐科技有限公司申请的专利LCM屏幕烧录校正方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119724060B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510224026.2，技术领域涉及：G09G3/00；该发明授权LCM屏幕烧录校正方法、装置、设备及存储介质是由胡建伟;张坤强;彭超伟设计研发完成，并于2025-02-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本LCM屏幕烧录校正方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及液晶显示领域，公开了LCM屏幕烧录校正方法、装置、设备及存储介质，包括以下步骤：采集屏幕的显示特性数据，建立老化效应模型以模拟屏幕退化过程；利用流形学习技术预测屏幕未来时刻的显示状态；根据当前显示状态与未来预测状态生成补偿函数；在烧录校正过程中应用所述补偿函数，对屏幕进行动态调整，以抵消老化效应对显示特性的影响。本发明能够实现亮度、色彩和对比度等多维显示特性的综合补偿，支持局部区域化调整，提供实时反馈和动态优化的校正机制，有效延长屏幕使用寿命，提高显示质量的一致性和长期稳定性，适用于大规模生产的屏幕校正过程。

本发明授权LCM屏幕烧录校正方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.LCM屏幕烧录校正方法，其特征在于，包括以下步骤： 采集LCM屏幕的显示特性数据； 基于所述显示特性数据，建立老化效应模型，模拟屏幕的退化过程； 预测屏幕未来时刻的显示状态； 根据当前显示状态与未来预测状态，生成补偿函数； 在烧录校正过程中应用所述补偿函数，以提前补偿屏幕的老化效应； 所述基于所述显示特性数据，建立老化效应模型的步骤包括： 选择适当的衰减模型，所述衰减模型为每个显示维度引入指数衰减形式； 对于每个显示维度xit，根据其初始值xi0和衰减速率常数αi，采用下式模拟该维度的退化过程： xit＝xi0·exp-αit； 其中，t为时间变量，表示使用时长；αi为与第i个显示维度相关的衰减速率常数； 对屏幕所有显示维度的退化过程进行建模，得到各维度在任意时刻t的显示状态； 将各显示维度的退化模型组合，形成一个多维老化效应模型； 所述预测屏幕未来时刻的显示状态的步骤包括： 使用流形学习技术，根据当前屏幕的显示特性数据x0建立非线性映射关系； 通过所述映射关系，计算屏幕在未来时刻t1的显示状态xt1，其计算公式为： xt1＝fx0,t1； 其中，f·为流形学习得到的映射函数，表示屏幕从当前时刻t0到未来时刻t1的显示状态变化； 基于所述映射函数，预测屏幕未来时刻t1在各显示维度上的状态变化，并获得屏幕在未来时刻t1显示状态的多维向量xt1； 所述根据当前显示状态与未来预测状态，生成补偿函数的步骤包括： 根据当前屏幕的显示特性数据x0和预测的未来显示特性数据xt1，设计目标函数为： 其中，ft为待求解的补偿函数，f't表示补偿函数ft对时间t的导数，gt为根据所述老化效应模型得到的显示特性随时间变化的退化速率或影响，y0t为理想的屏幕显示状态，xt1为预测的未来显示特性数据，λ1和λ2为权重系数； 通过变分法求解目标函数，得到补偿函数ft。

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