恭喜南京医科大学方一民获国家专利权
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龙图腾网恭喜南京医科大学申请的专利一种干涉-散射增强模式下的暗场显微镜获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN110702682B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201911054952.0，技术领域涉及：G01N21/84；该发明授权一种干涉-散射增强模式下的暗场显微镜是由方一民;黄宗雄;陈珊;孙俊杰设计研发完成，并于2019-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种干涉-散射增强模式下的暗场显微镜在说明书摘要公布了：本发明公开一种干涉‑散射增强模式下的暗场显微镜，包括用于发出光线的光源、由若干个反射镜组成的反射光路以及设置于待测样品上方的检测装置，光源发出平行光束经过待测样品后进入反射光路内，并经反射光路再次以平行光束经过待测样品，待测样品发生散射而被检测装置所检测。相对现有技术，本发明技术方案具有结构简易、方便操作且检测灵敏、可靠性高等优点，相对现有的暗场显微镜，本发明具有显著提高显微镜分辨率和应用范围、满足纳米尺度的观测和成像要求，搭建成本低廉，具有能在普通实验室普及和应用等优点。
本发明授权一种干涉-散射增强模式下的暗场显微镜在权利要求书中公布了：1.一种干涉-散射增强模式下的暗场显微镜，其特征在于，包括用于发出光线的光源、由若干个反射镜组成的反射光路以及设置于待测样品上方的检测装置，光源发出平行光束经过待测样品后进入反射光路内，并经反射光路若干次以平行光束经过待测样品而被检测装置所检测； 所述反射光路包括处于同一平面内且沿光路依次设置的第一反光镜、第二反光镜、第三反光镜以及第四反光镜，所述光源与待测样品之间设有第一准直镜头将光源发出的光线耦合后首次经过待测样品，第二反光镜和第三反光镜之间设有减光片，第三反光镜和待测样品之间设有第二准直镜头与第三反光镜反射的光线耦合后再次经过待测样品，第四反光镜设置于第二准直镜头经过待测样品后的光线前部并将光线持续反射至待测样品。
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