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龙图腾网恭喜垣矽技术(青岛)有限公司申请的专利基于视觉分析的反馈驱动芯片缺陷分类方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119888381B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510366563.0，技术领域涉及：G06V10/764；该发明授权基于视觉分析的反馈驱动芯片缺陷分类方法及系统是由张彦生;刘本勇;杨军;耿彪设计研发完成，并于2025-03-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于视觉分析的反馈驱动芯片缺陷分类方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了基于视觉分析的反馈驱动芯片缺陷分类方法及系统，涉及图像处理技术领域。包括建立数据库，收集历史缺陷图片，并根据缺陷的不同进行标签分类;获取待检测图片，转化为单通道检测像素图，并进行区域划分，计算易错区的区块常数；采用大小不同的区块，在正常区进行自适应直方图均衡化，在易错区根据区块常数，进行增强化直方图均衡化，获取检测图；根据相似度判断缺陷类型，进行缺陷分类。本发明对单通道检测像素图进行区域划分，采用大小不同的区块，在正常区进行自适应直方图均衡化，在易错区进行增强化直方图均衡化，获取检测图着重反映其内部较小的局部特征，提高检测效果并降低运算复杂程度，减小计算量。

本发明授权基于视觉分析的反馈驱动芯片缺陷分类方法及系统在权利要求书中公布了：1.基于视觉分析的反馈驱动芯片缺陷分类方法，其特征在于：包括： 建立数据库，收集历史缺陷图片并记录历史缺陷图片的产生时间，将历史缺陷图片转化为单通道历史像素图，并根据缺陷的不同进行标签分类; 获取待检测图片，将待检测图片转化为单通道检测像素图，根据历史缺陷图片，通过区域预测法对单通道检测像素图进行区域划分，将单通道检测像素图分为正常区和易错区，并通过区块常数计算方法计算易错区的区块常数； 采用大小不同的区块，在正常区进行自适应直方图均衡化，在易错区根据区块常数，进行增强化直方图均衡化，获取检测图，能够提高单通道像素图的对比度，并在易错区内着重反映其内部较小的局部特征，提高检测效果并降低运算复杂程度； 将检测图与单通道历史像素图进行对比，并根据相似度判断缺陷类型，进行缺陷分类，当有缺陷时，将检测图保存到数据库中对单通道历史像素图进行更新； 所述区块常数计算方法包括： 记录上一次增强化直方图均衡化计算中计算数值超过最大通道数的像素数量； 获取上一次检测的易错区的像素总数量，并计算区块常数，具体为：其中为区块常数，为上次计算的区块常数，是在上一次计算中经过增强化直方图均衡化计算后通道值大于最大通道值的原通道值，为单通道检测像素图的通道值上限，为易错区中通道值为i的像素数量，为区块计算系数，由技术人员设定,为上一次检测的易错区的像素总数量； 增强化直方图均衡化包括： 将单通道检测像素图中易错区的像素分成若干个不重叠的区块； 分别对每个区块进行计算：，其中为区块中通道值为i的像素数量，为累计函数，也即区块中通道值为i和i以下的像素数量，为单通道检测像素图中的通道值上限，为单通道检测像素图像素i在检测图中的映射通道值，为单通道检测像素图的通道值上限，和分别为累计函数中的最小值和最大值，为区块常数； 将单通道检测像素图中易错区的通道值全部进行映射即可获取易错区对应的检测图。

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