恭喜成都海光集成电路设计有限公司滕为荣获国家专利权
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龙图腾网恭喜成都海光集成电路设计有限公司申请的专利晶圆测试归类方法、装置及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115938450B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211652369.1，技术领域涉及：G11C29/00；该发明授权晶圆测试归类方法、装置及计算机可读存储介质是由滕为荣;朱士玉;陆毅设计研发完成，并于2022-12-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本晶圆测试归类方法、装置及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种晶圆测试归类方法，包括：对晶圆中每颗芯片的每个测试条目进行晶圆测试，根据各测试条目所属的测试类别及其对应的晶圆测试结果，确定每颗芯片的初始归类结果，形成晶圆测试结果记录文件；对晶圆测试结果记录文件进行解析和整理，得到芯片的标记信息、芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果之间的对应关系；在接收到晶圆批次完成所有相关量产工序后发送的触发文件之后，根据触发文件中的芯片的标记信息，从对应关系中获取芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果，并根据芯片的初始归类结果对应的预处理标识，确定芯片的最终归类结果。本发明能够实现根据芯片测试结果的合理归类，同时避免测试误判。
本发明授权晶圆测试归类方法、装置及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种晶圆测试归类方法，其特征在于，所述方法包括： 对晶圆中每颗芯片的每个测试条目进行晶圆测试，根据各测试条目所属的测试类别及其对应的晶圆测试结果，确定每颗芯片的初始归类结果，形成晶圆测试结果记录文件； 对所述晶圆测试结果记录文件进行解析和整理，得到芯片的标记信息、芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果之间的对应关系； 在接收到晶圆批次完成所有相关量产工序后发送的触发文件之后，根据所述触发文件中的芯片的标记信息，从所述芯片的标记信息、芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果之间的对应关系中获取芯片各测试条目下的晶圆测试结果以及芯片的初始归类结果，并根据芯片的初始归类结果对应的预处理标识，确定芯片的最终归类结果。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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