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龙图腾网获悉成都融见软件科技有限公司;上海合见工业软件集团有限公司申请的专利一种ATPG测试向量的调试方法、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119690763B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311233620.5，技术领域涉及：G06F11/263；该发明授权一种ATPG测试向量的调试方法、电子设备及存储介质是由唐华兴;张攀;刘定文;王星设计研发完成，并于2023-09-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种ATPG测试向量的调试方法、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片领域，特别是涉及一种ATPG测试向量的调试方法、电子设备及存储介质，ATPG解析并加载verilog仿真器生成的第一类仿真数据库，ATPG根据测试向量进行仿真生成第二类仿真数据库，获取不匹配的测试向量集及每个不匹配的测试向量对应的实例和不匹配的输出引脚，所述不匹配的测试向量集中的测试向量为观测到芯片模型输出引脚输出的第一类输出响应数据信号与测试向量中的期望响应不匹配的测试向量；当用户指定不匹配的测试向量集中的测试向量作为目标测试向量时，获取目标测试向量不匹配的源头，溯源效率高。

本发明授权一种ATPG测试向量的调试方法、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种ATPG测试向量不匹配的调试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： S100，ATPG解析并加载verilog仿真器生成的第一类仿真数据库，所述第一类仿真数据库保存了verilog仿真器根据测试向量为芯片模型的输入施加激励进行仿真得到的第一类仿真数据信号，所述第一类仿真数据信号包括测试向量和第一类输出响应数据信号；所述测试向量包括激励和期望响应； S200，ATPG根据测试向量进行仿真生成第二类仿真数据库，所述第二类仿真数据库保存了第二类仿真数据信号，所述第二类仿真数据信号包括测试向量和输出引脚输出的第二类输出响应数据信号； S300，获取不匹配的测试向量集及每个不匹配的测试向量对应的实例和不匹配的输出引脚，所述不匹配的测试向量集中的测试向量为观测到芯片模型输出引脚输出的第一类输出响应数据信号与测试向量中的期望响应不匹配的测试向量； S400，当用户指定不匹配的测试向量集中的测试向量作为目标测试向量时，获取目标测试向量不匹配的源头，包括： S410，添加观察到不匹配的测试向量的实例，将添加的不匹配的测试向量的实例作为目标实例； S420，从第一类仿真数据库提取所有实例所有引脚的第一类仿真数据信号； S430，从第二类仿真数据库提取所有实例中所有引脚的第二类仿真数据信号； S440，当将同一个引脚的第一类仿真数据信号和第二类仿真数据信号进行比对得到相同的结果时，在可视化窗口的实例电路图中的相应引脚上显示一个数据信号；否则，按照指定的显示格式显示两类不匹配的数据信号； S450，根据目标实例不匹配的输出引脚向前进行溯源得到不匹配的源头。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人成都融见软件科技有限公司;上海合见工业软件集团有限公司，其通讯地址为：610095 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区吉泰二路266号18栋1单元6楼602号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。