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龙图腾网获悉安徽大学申请的专利基于光谱和空间特征融合的高光谱制种玉米种植区提取方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116188989B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310210658.4，技术领域涉及：G06V20/10；该发明授权基于光谱和空间特征融合的高光谱制种玉米种植区提取方法是由黄林生;张娜;杨贵军;杨浩;赵晋陵;翁士状设计研发完成，并于2023-03-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光谱和空间特征融合的高光谱制种玉米种植区提取方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于光谱和空间特征融合的高光谱制种玉米种植区提取方法，包括：获取研究区数据进行预处理；进行掩膜，得到掩膜后的Setinel‑2数据，提取玉米种植分布数据对预处理后的珠海一号OHS高光谱数据进行掩膜；采用类均值矩阵聚类方法构建光谱特征；采用多尺度形态学方法在光谱特征基础上构建空间特征；寻找分类器最优参数，获得制种玉米提取模型；分别进行制种玉米提取，使用总体精度进行评估。本发明采用一阶统计量类均值矩阵和k‑means聚类提取光谱特征，运算简单并增加了制种玉米与大田玉米的类间差异；本发明采用的多尺度形态学空间特征改善了“椒盐噪声”现象，保留了较为完整的地块结构，提高了制种玉米提取精度。

本发明授权基于光谱和空间特征融合的高光谱制种玉米种植区提取方法在权利要求书中公布了：1.一种基于光谱和空间特征融合的高光谱制种玉米种植区提取方法，其特征在于：该方法包括下列顺序的步骤： 1获取研究区的珠海一号OHS高光谱数据、Sentinel-2多光谱数据和欧空局的全球土地覆盖产品，并对获取的数据进行预处理； 2采用欧空局的全球土地覆盖产品中的耕地分布数据对预处理后的Sentinel-2数据进行掩膜，得到掩膜后的Setinel-2数据，采用增强植被指数阈值法对掩膜后的Setinel-2数据提取玉米种植分布数据，提取到的玉米种植分布数据对预处理后的珠海一号OHS高光谱数据进行掩膜； 3采用类均值矩阵聚类方法构建光谱特征； 4采用多尺度形态学方法在光谱特征基础上构建空间特征； 5将构建的光谱特征和空间特征标准化后输入到支持向量机分类器中寻找分类器最优参数，获得制种玉米提取模型； 6将苗期、拔节期和乳熟期的影像输入制种玉米提取模型，分别进行制种玉米提取，使用总体精度进行评估。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人安徽大学，其通讯地址为：230601 安徽省合肥市经济技术开发区九龙路111号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。