深圳市华力宇电子科技有限公司李英才获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市华力宇电子科技有限公司申请的专利基于集成电路测试机测试芯片故障的方法、系统及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115267513B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211029924.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于集成电路测试机测试芯片故障的方法、系统及设备是由李英才设计研发完成，并于2022-08-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于集成电路测试机测试芯片故障的方法、系统及设备在说明书摘要公布了：本申请涉及芯片测试的领域，尤其是涉及基于集成电路测试机测试芯片故障的方法、系统及设备，其方法包括生成图像数据阵列以使芯片接收图像数据阵列并对所述图像数据阵列进行处理，获得有效数据阵列；判断所述有效数据阵列是否与预设数据阵列相似；若所述有效数据阵列与预设数据阵列相似，则芯片未损坏；若所述有效数据阵列与预设数据阵列不相似，则芯片损坏。可以同时向多个芯片传输数据，节省数据采集的时间，然后再同时对数据处理，做到并行采集串行处理数据，提高芯片的测试效率。
本发明授权基于集成电路测试机测试芯片故障的方法、系统及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于集成电路测试机测试芯片故障的方法，应用于集成电路测试机，所述集成电路测试机连接有多个芯片，其特征在于，包括： 生成图像数据阵列以使芯片接收图像数据阵列并对所述图像数据阵列进行处理，获得有效数据阵列； 判断所述有效数据阵列是否与预设数据阵列相似； 若所述有效数据阵列与预设数据阵列相似，则芯片未损坏； 若所述有效数据阵列与预设数据阵列不相似，则芯片损坏； 其中，所述生成图像数据阵列包括： 获取预设的图像阵列数据量； 基于所述芯片频率以及所述图像阵列数据量，得到采集时间； 基于所述采集时间，生成图像数据阵列。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市华力宇电子科技有限公司，其通讯地址为：518128 广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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