买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团川庆钻探工程有限公司申请的专利一种碳酸盐岩低孔低渗储层伤害程度综合识别方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115387787B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211012888.1，技术领域涉及：E21B49/00；该发明授权一种碳酸盐岩低孔低渗储层伤害程度综合识别方法是由陈平;黄超;杨晓峰;张新发;金祥哲;陈怀兵;薛艳;张耀刚;赵旭;王志刚;唐军;李大昕设计研发完成，并于2022-08-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种碳酸盐岩低孔低渗储层伤害程度综合识别方法在说明书摘要公布了：本发明涉及油气藏技术领域，特别是涉及一种碳酸盐岩低孔低渗储层伤害程度综合识别方法，包括在碳酸盐岩低孔低渗储层投入开发前和投入开发后分别进行识别；在碳酸盐岩低孔低渗储层投入开发前进行识别指：基于初始储层和流体参数对碳酸盐岩低孔低渗储层存在的潜在储层伤害因素进行识别，判别敏感程度；在碳酸盐岩低孔低渗储层投入开发后进行识别指：基于气井监测数据对井筒积液与堵塞情况进行识别，判断井筒是否发生积液与结垢堵塞；当井筒无积液与结垢堵塞后，基于气井监测数据、气藏储层与流体参数对储层水锁程度进行识别，获取水锁伤害范围。通过本识别方法，能对碳酸盐岩低孔低渗储层投入开发前后的储层潜在伤害和现有伤害情况进行定量描述。

本发明授权一种碳酸盐岩低孔低渗储层伤害程度综合识别方法在权利要求书中公布了：1.一种碳酸盐岩低孔低渗储层伤害程度综合识别方法，其特征在于：包括在碳酸盐岩低孔低渗储层投入开发之前进行识别和在碳酸盐岩低孔低渗储层投入开发后进行识别； 其中，在碳酸盐岩低孔低渗储层投入开发之前进行识别，具体包括以下步骤：S1.基于初始储层和流体参数，计算储层的水相圈闭指标值，所述水相圈闭指标值包括适用于气藏的水相圈闭指数CAPT；根据水相圈闭指标值对碳酸盐岩低孔低渗储层存在的潜在储层伤害因素进行识别，并判别敏感程度； 所述适用于气藏的水相圈闭指数CAPT的计算方法为： 式中：k为储层气体渗透率；Swi为储层的初始含水饱和度；φ为孔隙度；σ为气水界面张力；θ为接触角；△p为流体排出时油气藏提供的最大压差；Swirr为储层的束缚水饱和度；μg为气体粘度；μw为水相粘度；Id为侵入深度； 其中，在碳酸盐岩低孔低渗储层投入开发后进行识别，具体包括以下步骤： S2.基于气井监测数据对井筒积液与堵塞情况进行识别，判断井筒是否发生积液与结垢堵塞，若是，对井筒积液和堵塞进行施工解除，解除后再进入步骤S3，若否，则直接进入步骤S3； S3.基于气井监测数据、气藏储层与流体参数对储层水锁程度进行识别，获取水锁伤害范围，具体包括以下步骤： S31.获取碳酸盐岩低孔低渗储层、流体以及气井生产动态数据； S32.根据考虑水锁影响的气体稳定流动状态，建立考虑水锁影响的气井产能方程： S＝S′+Sb 式中：Pe为气藏地层压力；re为泄气半径；h为气藏有效厚度；qsc为气井产量；K为气藏原始渗透率；S′为除水锁外其余因素造成的储层伤害表皮系数；Z为天然气偏差因子；ra为水锁半径；Ka为水锁后渗透率；Sb为水锁造成的表皮系数；S33.根据步骤S32中的方程，利用牛顿迭代法对方程进行迭代求解，获取水锁半径，识别储层水锁伤害范围： fra＝0 式中：f表示考虑水锁影响的气井产能方程；下标n和n+1表示牛顿迭代层次。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团川庆钻探工程有限公司，其通讯地址为：100007 北京市东城区东直门北大街9号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。